Dispositivo para el mapeo de obleas
Complemento opcional para explorar y mapear la orientación del cristal o las distorsiones de la superficie.
Determine con precisión la orientación completa del cristal en segundos utilizando nuestro método de escaneo patentado. El DDCOM es eficiente, con bajo consumo de energía y costos de operación, lo que lo hace ideal tanto para aplicaciones de investigación como de industria.
Descargar folletoOrientación del cristal ultrarrápida y precisa (hasta (1/100)o) al alcance de su mano. El sistema DDCOM llega a resultados fiables más de 100 veces más rápido que los métodos tradicionales y ahorra aún más tiempo gracias a la geometría de medición de arriba abajo. Este instrumento de alta versatilidad utiliza un tubo de rayos X refrigerado por aire y un diseño portátil para garantizar menores costos de funcionamiento y la máxima comodidad, lo que resulta ideal para aplicaciones de control de calidad, de marcado y de investigación.
Nuestro método de escaneo patentado requiere una única rotación de escaneo para recopilar todos los datos necesarios a fin de determinar la orientación del cristal, lo cual ofrece resultados precisos en el plazo de unos pocos segundos (rotación única).
La geometría del instrumento específica del material permite medir la orientación de la red de cristales en relación con el eje de rotación de manera ultrarrápida, con una precisión que aumenta con el número de rotaciones de escaneo.
El diseño compacto del DDCOM permite que el sistema encaje en cualquier entorno. El software es potente e intuitivo, por lo que resulta conveniente y fácil de operar para una variedad de usuarios.
Mantenga el control de los procesos de corte, molienda y lapeado con una precisión alta de hasta 1/100o. El DDCOM ofrece una orientación completa de la red de monocristales y está diseñado para el ajuste y marcado azimutales de la orientación del cristal.
Los parámetros de cristal preprogramados permiten determinar la orientación arbitraria desconocida de varias estructuras y ayudan a refinar el flujo de trabajo para una mayor eficiencia. Varios accesorios de plataformas permiten la metrología en diferentes pasos del proceso.
El DDCOM puede operar correctamente tanto en entornos de investigación como de producción en los que es necesario analizar una serie de tipos de muestras. El DDCOM mantiene costos operativos bajos, gracias a su bajo consumo de energía y al tubo de rayos X refrigerado por aire. No se requiere refrigeración por agua.
El instrumento puede medir una gama de diferentes materiales con diferentes estructuras, lo que lo convierte en una adición versátil para todo tipo de laboratorios. Algunos ejemplos de materiales medibles incluyen los siguientes:
Especificación técnica | |
---|---|
Fuente de rayos X | Tubo de rayos X refrigerado por aire de 30 W, ánodo de Cu |
Detectores | Dos contadores de centelleo |
Soporte de muestras | Plataforma giratoria precisa, precisión de ajuste 0,01°, herramientas para el posicionamiento y marcado de muestras definidas |
Especificación física | |
Dimensiones | 600 mm × 600 mm × 850 mm |
Peso | 80 kg |
Fuente de energía | 100-230 V, 500 W, monofásico |
Temperatura ambiente | ≤30 °C |
Opciones de configuración | |
Dispositivo para mapeo de obleas (diámetro máximo 225 mm) | |
Dispositivo para carga automática desde casetes | |
Ejemplos de materiales medibles | |
Cúbicos / orientación arbitraria desconocida: Si, Ge, GaAs, GaP, AlAs, AlP, InP, NaCl, AgCl, CaF2 | |
Cúbicos / orientación especial: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC 3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3 | |
Tetragonales: MgF2, TiO2, SrLaAlO4 | |
Hexagonales / trigonales: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (cuarzo), Al2O3 (zafiro), GaPO4, La3Ga5SiO14 | |
Ortorrómbicos: Mg2SiO4, NdGaO3 | |
Otros materiales según los pedidos de los clientes |
Complemento opcional para explorar y mapear la orientación del cristal o las distorsiones de la superficie.
Una herramienta adicional para permitir la carga automatizada de muestras desde un casete, lo que mejorará el tiempo de producción y la eficiencia del flujo de trabajo.
Obtenga mediciones versátiles y ultrarrápidas de orientación del cristal con el poder de la automatización, todo en un instrumento de escritorio ligero y rentable.