Download the brochure - In-operando XRD battery research and quality control solutions. Download now

Download now

Diffractomètres à rayons X (XRD)

Au service de la communauté de diffraction des rayons X depuis presque un siècle

La conception des diffractomètres à rayons X de Malvern Panalytical permet d'obtenir des diffractogrammes d'excellente qualité. Leur simplicité d'utilisation et leur flexibilité permettent de passer d'une application à l'autre très rapidement.

Nos diffractomètres sont utilisés dans de nombreux environnements, des universités et instituts de recherche aux laboratoires de contrôle des procédés industriels. Quels que soient vos besoins en diffraction des rayons X (XRD), nous avons l'instrument que vous recherchez. Et vous pourrez compter sur notre réseau de vente et d'après-vente dans le monde entier.

Polyvalents, nos diffractomètres (Aeris, Empyrean, X’Pert3 MRD (XL) sont tous équipés de modules PreFIX (modules pré-alignés interchangeables rapidement) qui simplifient le changement de trajet optique. C'est pour cette raison que nous proposons la plupart des applications sur une même plateforme de diffractomètre. Découvrez dans notre centre de connaissances de nombreuses applications XRD passionnantes.

Aeris

Préparez-vous à être surpris par notre système XRD extrêmement précis et rapide. Des résultats précis peuvent être prêts en moins de cinq minutes.

Aeris

Gamme Empyrean

Nos optiques multicœurs nouvellement conçues permettent la plus grande variété de mesures sans aucune intervention manuelle.

Gamme Empyrean

Gamme X'Pert³

La longue et fructueuse histoire de nos diffractomètres de recherche sur les matériaux se poursuit avec une nouvelle génération de X'Pert³.

Gamme X'Pert³

Crystal orientation range

Nos solutions d'orientation des cristaux sont conçues pour les applications de boules, de lingots, de rondelles et de plaquettes.

Crystal orientation range
Aeris

Aeris

Compact X-ray diffractometer

Gamme Empyrean

Gamme Empyrean

Multipurpose X-ray diffractometer

Gamme X'Pert³

Gamme X'Pert³

Thin Film Analysis XRD Systems

Crystal orientation range

Crystal orientation range

Fast and accurate orientation of wafers and ingots

Technologie
Diffraction des rayons X (XRD)
Type de mesure
Forme des particules
Taille des particules
Détermination de la structure cristalline
Identification de phase
Quantification de la phase
Détection et analyse de contaminants
Analyse de l'épitaxie
Rugosité de l'interface
Imagerie/structure 3D
Métrologie des couches minces
Contraintes résiduelles
Crystal orientation
Cleanroom ISO 4
SECS/GEM