Características
Redução da necessidade de materiais de referência em camadas
Uma vantagem notável do pacote Stratos é que resultados excelentes são obtidos com instrumentos calibrados usando o padrão de FRX em lote convencional ou amostras de referência, cuja composição e estrutura de camada diferem daquelas das desconhecidas. Isso resolve o problema comum de obter padrões caros e certificados de filmes finos que, se disponíveis, correspondem às amostras de produção encontradas na análise de wafers semicondutores e metais revestidos. Se a opção Omnian também estiver disponível, os padrões e a calibração do Omnian podem ser usados diretamente para o Stratos.
O Virtual Analyst - desenvolvimento de método facilitado
O módulo de software Stratos inclui o Virtual Analyst, seu consultor para o desenvolvimento de métodos avançados. Com base em uma definição de sua estrutura de amostra, o Virtual Analyst simula a resposta fluorescente da amostra e fornece as configurações ideais para análise, eliminando, assim, experimentos demorados de tentativa e erro normalmente necessários para configurar essas aplicações complicados.
Modelos avançados de fluorescência de algoritmos para pilhas complicadas
O Stratos usa parâmetros fundamentais para calcular as intensidades teóricas de raios X para cada intensidade dispersa constituinte e Compton da amostra. Elas são então correlacionadas com intensidades medidas a partir de padrões de referência, a fim de obter os fatores instrumentais essenciais que formam a base dos cálculos. Para caracterizar amostras desconhecidas, são inseridas composições estimadas para uma ou mais camadas presentes. Um processo repetido de refinamento é empregado até que uma correspondência aproximada seja obtida com os valores medidos.
Especificações
O Stratos permite a determinação precisa de espessura e composição para setores de revestimento e embalagem. As principais vantagens incluem capacidade maximizada de multicamadas, custos de calibração minimizados, flexibilidade total e facilidade de uso devido à configuração intuitiva de fórmulas com o auxílio do Virtual Analyst e da análise por pressionamento de botão com a geração automática de relatórios. A análise pode ser executada sem intervenção do operador e os dados podem ser transmitidos para um LIMS ou para um sistema host de fábrica usando UAI. Os resultados são apresentados como percentuais de elementos ou espessuras de massa.