Os espectrômetros de FRX podem ser configurados com opções de software dedicadas para tipos específicos de análises da fluorescência de raios X. Em conjunto com os módulos de aplicação (configuração de aplicação, calibração e padrões) ou como um pacote com produtos de preparação da amostra, as soluções analíticas completas são criadas. Todos os produtos da Malvern Panalytical contam com o suporte da nossa organização de pós-vendas e de atendimento ao cliente.

Em nosso Centro de conhecimento, você encontrará mais informações sobre as várias aplicações de FRX interessantes possíveis com nossos espectrômetros

Zetium

Zetium

Excelência elementar

Mais detalhes
Medição Identificação química, Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Gama elementar Be-U
Resolução (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
processamento de amostra 160per 8h day - 240per 8h day
Tecnologia Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz

Mais detalhes
Medição Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Gama elementar Na-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra Up to - 80per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

Rapidez e precisão na análise elementar em linha

Mais detalhes
Medição Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Gama elementar C-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra Up to - 160per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

Mais detalhes
Medição Elemental analysis, Contaminant detection and analysis
Gama elementar Na-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra on-line
Tecnologia Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

2830 ZT

2830 ZT

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados

Mais detalhes
Medição Identificação química, Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Gama elementar Be-U
Resolução (Mg-Ka) 35eV
processamento de amostra up to 25 wafers per hour
LLD 0.1 ppm - 100%
Tecnologia Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Axios FAST

Axios FAST

Alta produtividade de amostras

Mais detalhes
Medição Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Elemental quantification
Gama elementar Be-U
Resolução (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
processamento de amostra 240per 8h day - 480per 8h day
Tecnologia Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Zetium

Zetium

Excelência elementar

Epsilon 1

Epsilon 1

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz

Epsilon 4

Epsilon 4

Rapidez e precisão na análise elementar em linha

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

2830 ZT

2830 ZT

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados

Axios FAST

Axios FAST

Alta produtividade de amostras

Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes
Medição Identificação química, Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Contaminant detection and analysis Identificação química, Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Elemental quantification
Gama elementar Be-U Na-Am C-Am Na-Am Be-U Be-U
Resolução (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
processamento de amostra 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day
Tecnologia Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Zetium

Epsilon 1

Epsilon 4

Epsilon Xflow

2830 ZT

Axios FAST

Zetium Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow 2830 ZT Axios FAST

Excelência elementar

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz

Rapidez e precisão na análise elementar em linha

Informações diretas do seu processo de produção

Solução de metrologia de filme fino de semicondutores avançados

Alta produtividade de amostras

Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes
Tipo de medição
Metrologia de filme fino
Elemental analysis
Contaminant detection and analysis
Elemental quantification
Identificação química
Tecnologia
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Gama elementar Be-U Na-Am C-Am Na-Am Be-U Be-U
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolução (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
processamento de amostra 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day