Introdução 

A espectrometria de fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica não-destrutiva utilizada para obter informações elementares a partir de diferentes tipos de materiais. É empregada em diversos setores e aplicações, como: produção de cimento, produção de vidro, mineração, beneficiamento mineral, ferro, aço e metais não-ferrosos, petróleo e petroquímicas, polímeros e setores relacionados, perícia forense, produtos farmacêuticos, produtos de saúde, meio ambiente, alimentos e cosméticos. Os sistemas de espectrômetros são geralmente divididos em dois grupos principais: sistemas de dispersão de comprimento de onda (WDXRF) e sistemas de energia dispersiva (EDXRF). A diferença entre os dois está no sistema de detecção. ​

O que é EDXRF e como funciona?​

O conceito básico de todos os espectrômetros é uma fonte de radiação, uma amostra e um sistema de detecção. Em espectrômetros EDXRF, a ampola de raios X que atua como fonte irradia uma amostra diretamente, e a fluorescência proveniente da amostra é medida com um detector de energia dispersiva. Esse detector é capaz de medir as energias diferentes da radiação característica que vem diretamente da amostra. O detector pode separar a radiação da amostra na radiação de diferentes elementos presentes na amostra. Essa separação é chamada de dispersão. ​  ​

Vantagens da espectrometria por EDXRF

  • Design​pequeno e compacto do instrumento
  • Pouca manutenção
  • Sem a necessidade de água, ar comprimido ou gases​
  • Baixo consumo de eletricidade
  • Resolução aprimorada do sistema
  • Análise elementar simultânea

Epsilon 1

Epsilon 1

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz

Mais detalhes
Medição Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Gama elementar Na-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra Up to - 80per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

Mais detalhes
Medição Elemental analysis, Contaminant detection and analysis
Gama elementar Na-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra on-line
Tecnologia Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

Rapidez e precisão na análise elementar em linha

Mais detalhes
Medição Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Gama elementar C-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra Up to - 160per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

Epsilon 4

Epsilon 4

Rapidez e precisão na análise elementar em linha

Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes
Medição Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Contaminant detection and analysis Metrologia de filme fino, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Gama elementar Na-Am Na-Am C-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV 135eV 135eV
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
processamento de amostra Up to - 80per 8h day on-line Up to - 160per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)