Introdução 

A espectrometria de fluorescência de raios X (XRF) é uma técnica analítica não-destrutiva utilizada para obter informações elementares a partir de diferentes tipos de materiais. É empregada em diversos setores e aplicações, como: produção de cimento, produção de vidro, mineração, beneficiamento mineral, ferro, aço e metais não-ferrosos, petróleo e petroquímicas, polímeros e setores relacionados, perícia forense, produtos farmacêuticos, produtos de saúde, meio ambiente, alimentos e cosméticos. Os sistemas de espectrômetros são geralmente divididos em dois grupos principais: sistemas de dispersão de comprimento de onda (WDXRF) e sistemas de energia dispersiva (EDXRF). A diferença entre os dois está no sistema de detecção. ​

O que é EDXRF e como funciona?​

O conceito básico de todos os espectrômetros é uma fonte de radiação, uma amostra e um sistema de detecção. Em espectrômetros EDXRF, a ampola de raios X que atua como fonte irradia uma amostra diretamente, e a fluorescência proveniente da amostra é medida com um detector de energia dispersiva. Esse detector é capaz de medir as energias diferentes da radiação característica que vem diretamente da amostra. O detector pode separar a radiação da amostra na radiação de diferentes elementos presentes na amostra. Essa separação é chamada de dispersão. ​  ​

Vantagens da espectrometria por EDXRF

  • Design​pequeno e compacto do instrumento
  • Pouca manutenção
  • Sem a necessidade de água, ar comprimido ou gases​
  • Baixo consumo de eletricidade
  • Resolução aprimorada do sistema
  • Análise elementar simultânea

Epsilon 1

Epsilon 1

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz

Mais detalhes
Medição Análise elementar, Detecção e análise de contaminantes, Quantificação elementar
Gama elementar F-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra Up to - 80per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

Mais detalhes
Medição Análise elementar, Detecção e análise de contaminantes
Gama elementar Na-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra on-line
Tecnologia Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

Rapidez e precisão na análise elementar em linha

Mais detalhes
Medição Metrologia de filme fino, Análise elementar, Detecção e análise de contaminantes, Quantificação elementar
Gama elementar F-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
processamento de amostra Up to - 160per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

Analisador de FRX pequeno, portátil e eficaz

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Informações diretas do seu processo de produção

Epsilon 4

Epsilon 4

Rapidez e precisão na análise elementar em linha

Mais detalhes Mais detalhes Mais detalhes
Medição Análise elementar, Detecção e análise de contaminantes, Quantificação elementar Análise elementar, Detecção e análise de contaminantes Metrologia de filme fino, Análise elementar, Detecção e análise de contaminantes, Quantificação elementar
Gama elementar F-Am Na-Am F-Am
Resolução (Mg-Ka) 135eV 135eV 135eV
LLD 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
processamento de amostra Up to - 80per 8h day on-line Up to - 160per 8h day
Tecnologia X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)