Dispersão de raios X de pequeno ângulo com incidência rasante (GISAXS)

Análise de nanoestruturas de filmes finos em superfícies

A dispersão de raios X de pequeno ângulo com incidência rasante (GISAXS) é aplicada a camadas superficiais finas que contêm nanopartículas, poros e outras não homogeneidades com dimensões que variam de 1 a 100 nm. A GISAXS é usada para a aquisição de informações sobre tamanho, formato e alinhamento desses recursos em nanoescala. Enquanto a SAXS (dispersão de raios X de pequeno ângulo) é aplicada a nanomateriais em formato líquido ou em pó, a GISAXS é aplicada a camadas superficiais em substratos planos. A GISAXS é usada para revelar dimensões e disposições laterais.

Aplicações da dispersão de raios X de pequeno ângulo com incidência rasante (GISAXS)

Os nanomateriais de filme fino são uma área de pesquisa ativa em tecnologias de energia, materiais fotovoltaicos, dispositivos semicondutores, setor fotônico, acústica e catálise, que são apenas alguns exemplos. Desde o início dos anos de 1990, houve um crescimento rápido nos métodos sintéticos de filmes finos nanoestruturados. A síntese de filmes finos pode ser combinada com métodos litográficos, geralmente para melhorar o ordenamento das nanoestruturas.

Circuitos integrados:
Filmes de sílica porosa são frequentemente usados em circuitos integrados em que o grau de porosidade é usado para controlar as propriedades dielétricas dos capacitores. Esses materiais nanoporosos podem ser sintetizados com o uso de copolímeros anfifílicos em bloco em um processo de gel sol. Usando agentes de direção estrutural, é possível criar matrizes nanoporosas altamente ordenadas.

Dispositivos de memória magnética:
Por meio de várias rotas de processamento diferentes, matrizes de nanopartículas de metal e óxido de metal são sintetizadas para aplicações eletrônicas e magnéticas.

Optoeletrônica e LEDS:
Métodos avançados de epitaxia por feixe molecular (MBE) e deposição química de vapor (CVD) são usados para produzir pontos quânticos e nanofios semicondutores para aplicações optoeletrônicas.

Catálise:
Os filmes finos e as monocamadas de nanopartículas de metais preciosos podem ser sintetizados usando métodos de fase de solução e são usados na catálise.
Baterias e sistemas de armazenamento de gás:
A nanoporosidade é explorada para o armazenamento de gases.

Controle de qualidade:
Embora a refletometria possa fornecer informações detalhadas sobre a qualidade das interfaces, a GISAXS é usada para revelar dimensões laterais, incluindo etapas interfaciais e irregularidades.

Soluções da Malvern Panalytical

Experimentos com a GISAXS podem ser realizados no difratômetro multiuso Empyrean. As instruções completas para a implantação da configuração, do alinhamento e da medição da GISAXS são fornecidas na documentação do guia do usuário do Empyrean.

Para um experimento que emprega radiação Cu Kα, os dados da GISAXS são coletados em ângulos baixos, por exemplo, na faixa de 0 a 3o. Essa faixa é perfeitamente adequada para a geração de imagens 2D com o uso de um detector de 55 μm de afastamento PIXcel3D. Medições GISAXS 2D podem ser feitas com o uso dos detectores PIXcel3D e PIXcel3D 2X2. Um plano de fundo extremamente baixo do detector possibilita longos tempos de contagem, além da observação de uma dispersão fraca.

Empyrean Nano Edition

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Plataforma de dispersão de raios X versátil

Empyrean

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O difratômetro inteligente

Tecnologia
X-ray Diffraction (XRD)