Diese Verifizierungsproben können verwendet werden, um sicherzustellen, dass die Konfiguration der Kleinwinkel-Röntgenstreuung unter streifendem Einfall (GISAXS) korrekt ist. Die Probe besteht aus sphärischen Fe2O3-Nanopartikeln mit einer bekannten Größenverteilung, die an der Oberfläche eines Si-Wafers angebracht sind. Die Partikel haben eine Polystyrolhülle.
Die Spezifikationen der Partikel sind durch die SEM- und die GISAXS-Analyse zertifiziert.
