Stellen Sie die Kristallausrichtung oder Oberflächenverzerrungen einfach auf einem benutzerdefinierten Raster mithilfe eines zusätzlichen X-Y-Positioniertisches über dem Drehtisch dar. Die Mapping-Bühne ermöglicht eine umfassende Untersuchung der gesamten Probenoberfläche über einen anpassbaren Oberflächenscan.
Suchen Sie weitere Informationen?
Um ein Angebot oder weitere Informationen anzufordern oder eine Broschüre herunterzuladen, wählen Sie unten eine Option aus.