2830 ZT 预安装手册
Versionsnummer: 4
2830 ZT
Der wellenlängendispersive Wafer-Analyzer (WDRFA) 2830 ZT bietet die ultimativen Möglichkeiten zur Messung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten. Speziell für die Halbleiter- und Datenspeicherindustrie entwickelt, ermöglicht der Wafer-Analyzer 2830 ZT die Bestimmung der Zusammensetzung, der Dicke, des Dotierungsgrads und der Oberflächenbeschaffenheit von Schichten bei Wafern von bis zu 300 mm.
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2830 ZT Pre-installation manual
Versionsnummer: 4
2830 ZT User Guide
Versionsnummer: 2
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Elemental Analysis Masterclass 3 - The Basics of Sample Preparation for XRF
- Produkte:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, Epsilon range, CNA Linie, Zetium
- Technologie:
- Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA), Borate fusion
Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained
- Produkte:
- 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, CNA Linie, Epsilon range, Zetium
- Technologie:
- Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA), Borate fusion
- Industrie:
- Fortschrittliche Fertigung, Halbleiter/Elektronik, Automobilbranche, Baustoffe, Essen und Trinken, Metalle, Bergbau, Forensische Analyse, Öle, Kraftstoffe und Chemikalien, Chemikalien, Pharmazie, Wasserbehandlung, Polymere
Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)
- Produkte:
- Zetium, CNA Linie, Claisse range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Epsilon range, Axios FAST
- Technologie:
- Röntgenfluoreszenzanalyse (RFA), Borate fusion
- Industrie:
- Fortschrittliche Fertigung, Halbleiter/Elektronik, Metalle, Wasserbehandlung, Pharmazie, Forensische Analyse, Essen und Trinken, Baustoffe, Öle, Kraftstoffe und Chemikalien, Chemikalien, Bergbau, Automobilbranche, Polymere
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