Software de difracción de rayos X

Paquete de software de XRD de Malvern Panalytical

Nuestros paquetes de software XRD están diseñados para extraer absolutamente toda la información de su material. Ofrecemos un software de recopilación de datos intuitivo y personalizado para el uso de control de procesos o investigación, además de módulos de análisis de vanguardia para las diversas aplicaciones de XRD que es posible realizar en nuestros instrumentos.

Software de recopilación de datos para difractómetros de uso múltiple

Con estos módulos de software, puede liberar la funcionalidad completa en las plataformas de uso múltiple Empyrean, X’Pert³ Powder o X’Pert³ MRD.

Data Collector es la caja de herramientas software central de adquisición de datos para Empyrean, X’Pert³ MRD (XL) y X’Pert³ Powder. XRD2DScan ofrece una conversión sencilla de conjuntos de datos en 2D a trazos en 1D para obtener un análisis más profundo.  

Data Collector Data Collector es su tablero de control para realizar todas las mediciones en polvos, películas delgadas, nanomateriales y objetos sólidos.	XRD2DScan Visualice sus datos de difracción en 2D y conviértalos en diversos análisis en 1D con XRD2DScan.

Software para aplicaciones de control de procesos de difracción de polvo

Controle el CubiX³ o el X’Pert³ Powder para realizar mediciones de difracción de polvo y extraiga resultados cuantitativos basados en líneas de calibración.

Industry está diseñado para entornos industriales con una interfaz con botones y amplias capacidades de automatización y LIMS (Sistema de Gestión de Información de Laboratorio, del inglés Laboratory Information Management System). Con la interfaz Walk-up opcional, los entornos multiusuario cuentan con el soporte adecuado. Quantify es una versión simplificada con 10 módulos de análisis cuantitativo preprogramados.

Industry Nuestro software Industry está diseñado para realizar análisis de difracción de rayos X de rutina en grandes volúmenes en un entorno industrial.	Quantify Quantify es un software independiente para la adquisición de datos básicos y el análisis cuantitativo de fases basados en líneas de calibración

Módulos de software de difracción de polvo

Nuestra familia de software de difracción de polvo HighScore está diseñada para extraer toda la información de fase de los polvos sueltos y compactos, además de otras muestras policristalinas.

Obtenga más información acerca de HighScore, el software de búsqueda de coincidencias más avanzado del mundo, con su amplio soporte de diversas bases de datos de búsqueda de coincidencias como CanDI-X. La opción HighScore Plus ofrece rutinas adicionales de cristalografía, agrupamiento ilimitado y análisis de Rietveld, además de toda la funcionalidad de HighScore. RoboRiet ofrece la función "solo de ejecución" de ajustes de perfil y cuantificación mediante el método Rietveld para uso en entornos industriales.

HighScore HighScore, nuestro software de difracción de polvo, también se puede utilizar para la identificación de fases y la creación de perfiles de profundidad de las fases en recubrimientos policristalinos.	Opción Plus para HighScore   Además de HighScore, nuestra opción Plus agrega cristalografía, agrupamiento ilimitado, ajustes de estructura de Rietveld y más en la misma interfaz de usuario.	Bases de datos de referencia para búsqueda de coincidencias Ofrecemos compatibilidad con la más amplia variedad de bases de datos de búsqueda de coincidencias para obtener el máximo rendimiento en la identificación de fases.	RoboRiet RoboRiet es una implementación especial "solo de ejecución" del método Rietveld y de ajustes de perfil para entornos industriales.

Análisis XRD de películas delgadas

Con nuestros módulos de software para películas delgadas, puede obtener información detallada acerca del grosor, la composición, la orientación preferida, la calidad epitaxial y la tensión residual presente en las capas.

Estos parámetros esenciales de capas delgadas se cuantifican de forma rápida y fácil con el nuevo paquete "todo en uno" AMASS (del inglés Advanced Material Analysis and Simulation Software, software de análisis y simulación avanzados de materiales). 

Para las capas policristalinas y las pilas de capas, puede determinar la composición de la fase, también como una función de profundidad, con nuestro software HighScore, y determinar las tensiones residuales con nuestro software Stress Plus.

AMASS Nuestro conjunto de software AMASS ofrece todas las funcionalidades que necesita para caracterizar las estructuras estratificadas, lo que permite una determinación rápida y fácil de los parámetros claves de las películas delgadas.	Stress Plus Con nuestro módulo Stress Plus, además de nuestro paquete de software Stress, se pueden determinar las tensiones residuales en películas policristalinas.

Análisis del tamaño y la forma de las nanopartículas

Software de análisis de datos EasySAXS para análisis de nanopartículas y nanoestructuras. Proporciona información acerca de las estructuras y las dimensiones de nanoescala, las formas de nanopartículas y las áreas de superficie. El software también admite el análisis de datos de dispersión de rayos X con ángulo ultrarreducido (USAXS, del inglés ultra small-angle X-ray scattering).

Software avanzado de análisis de datos de SAXS EasySAXS es un paquete de software avanzado, fácil de usar, para el análisis de datos de dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS).

Análisis de objetos sólidos

Nuestros módulos de software Texture and Stress revelan la orientación preferida y las tensiones residuales que se encuentran presentes en los componentes maquinados, como los metales extruidos y laminados.

Expertos de todo el mundo elogian a Stress por su funcionalidad integral e intuitiva. El módulo opcional Stress Plus agrega el análisis de las tensiones residuales en películas delgadas al paquete Stress.
Texture ofrece una amplia funcionalidad para analizar las figuras de polos, las funciones de distribución de orientación (ODF, del inglés orientation distribution function) y las figuras de polos inversas.

Stress Nuestro intuitivo paquete Stress calcula las tensiones residuales en las muestras mediante el método sin2Ψ.	Stress Plus Con la opción Stress Plus, puede ampliar la funcionalidad del software Stress para el análisis de películas finas y policristalinas.	Texture Texture es nuestro paquete de software que le permite analizar, calcular y visualizar las orientaciones de preferencia de los cristalitos.