Espectrómetros de fluorescencia de rayos X (XRF)

Espectrómetros de XRF expertos para el análisis de composición elemental

Malvern Panalytical ofrece una gama versátil de espectrómetros de fluorescencia de rayos X y productos relacionados para el análisis elemental y de películas delgadas. Estos analizadores XRF son apropiados para una amplia gama de requisitos de análisis y rendimiento y entornos de operación. La gama de espectrómetros que va desde sistemas de fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) de laboratorio de dispersión de energía hasta sistemas de XRF de dispersión de longitud de onda de alto rendimiento y productos para la medición de semiconductores.

Los espectrómetros de XRF pueden configurarse con opciones de software especializado para tipos específicos de análisis de fluorescencia por rayos X. En combinación con módulos de aplicación (configuración de la aplicación, calibración y estándares) o como un paquete con productos de preparación de muestras, se crean soluciones analíticas completas. Todos los productos de Malvern Panalytical están respaldados por nuestro servicio de posventa y nuestra organización de servicio al cliente.

En nuestro centro de conocimientos, encontrará más información sobre las numerosas e interesantes aplicaciones de fluorescencia de rayos X (XRF) que son posibles con nuestros espectrómetros.

Zetium

Zetium

Excelencia elemental

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Epsilon 1

Epsilon 1

Analizador XRF pequeño, potente y portátil

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Epsilon 4

Epsilon 4

Análisis elemental en la línea rápido y preciso

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Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Información directa en sus procesos de producción

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2830 ZT

2830 ZT

Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

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Axios FAST

Axios FAST

Alto rendimiento de muestras

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Tipo de medición
Metrología de película delgada
Análisis elemental
Detección y análisis de contaminantes
Cuantificación elemental
Identificación química
Tecnología
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Rango primario Be-Am F-Am F-Am Na-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolución (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
Rendimiento de muestra 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day