Malvern Panalytical ofrece una gama versátil de espectrómetros de fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) y productos relacionados para el análisis elemental y de películas delgadas. Estos productos son apropiados para una amplia gama de requisitos de análisis y rendimiento y entornos de operación. La gama de espectrómetros que va desde sistemas de fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) de laboratorio de dispersión de energía hasta sistemas de XRF de dispersión de longitud de onda de alto rendimiento y productos para la medición de semiconductores.

Estos dispositivos pueden configurarse con opciones de software especializado para tipos específicos de análisis. En combinación con módulos de aplicación (configuración de la aplicación, calibración y estándares) o como un paquete con dispositivos de preparación de muestras, se crean soluciones analíticas completas. Todos los productos de Malvern Panalytical están respaldados por nuestro servicio de posventa y nuestra organización de servicio al cliente.

En nuestro centro de conocimientos, encontrará más información sobre las numerosas e interesantes aplicaciones de fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) que son posibles con nuestros dispositivos.

Zetium

Zetium

Excelencia elemental

Más detalles
Medición Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Rango primario Be-U
Resolución (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra 160per 8h day - 240per 8h day
Tecnología Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Axios FAST

Axios FAST

Alto rendimiento de muestras

Más detalles
Medición Thin film metrology, Elemental analysis, Elemental quantification
Rango primario Be-U
Resolución (Mg-Ka) 35eV
LLD 0.1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra 240per 8h day - 480per 8h day
Tecnología Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Epsilon 1

Epsilon 1

Compacto y potente

Más detalles
Medición Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Rango primario Na-Am
Resolución (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra 40per 8h day - 80per 8h day
Tecnología Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Información directa en sus procesos de producción

Más detalles
Medición Elemental analysis
Rango primario Na-Am
Resolución (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra on-line
Tecnología Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

2830 ZT

2830 ZT

Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

Más detalles
Medición Identificación química, Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Rango primario Be-U
Resolución (Mg-Ka) 35eV
Rendimiento de muestra up to 25 wafers per hour
LLD 0.1 ppm - 100%
Tecnología Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)

Epsilon 4

Epsilon 4

Análisis elemental en la línea rápido y preciso

Más detalles
Medición Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Rango primario C-Am
Resolución (Mg-Ka) 135eV
LLD 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra 80per 8h day - 160per 8h day
Tecnología Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Zetium

Zetium

Excelencia elemental

Axios FAST

Axios FAST

Alto rendimiento de muestras

Epsilon 1

Epsilon 1

Compacto y potente

Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Información directa en sus procesos de producción

2830 ZT

2830 ZT

Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

Epsilon 4

Epsilon 4

Análisis elemental en la línea rápido y preciso

Más detalles Más detalles Más detalles Más detalles Más detalles Más detalles
Medición Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Thin film metrology, Elemental analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis Identificación química, Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification
Rango primario Be-U Be-U Na-Am Na-Am Be-U C-Am
Resolución (Mg-Ka) 35eV 35eV 135eV 135eV 35eV 135eV
LLD 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100%
Rendimiento de muestra 160per 8h day - 240per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day 40per 8h day - 80per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 80per 8h day - 160per 8h day
Tecnología Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)

Zetium

Epsilon 1

Epsilon 4

Epsilon Xflow

2830 ZT

Axios FAST

Zetium Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow 2830 ZT Axios FAST

Excelencia elemental

Compacto y potente

Análisis elemental en la línea rápido y preciso

Información directa en sus procesos de producción

Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

Alto rendimiento de muestras

Más detalles Más detalles Más detalles Más detalles Más detalles Más detalles
Tipo de medición
Thin film metrology
Elemental analysis
Contaminant detection and analysis
Elemental quantification
Identificación química
Tecnología
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Rango primario Be-U Na-Am C-Am Na-Am Be-U Be-U
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolución (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
Rendimiento de muestra 160per 8h day - 240per 8h day 40per 8h day - 80per 8h day 80per 8h day - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day