La composición elemental de los materiales es a menudo un parámetro fundamental en la calidad y seguridad de los productos. Por ejemplo, la composición correcta de alimentación de materia prima a un horno de cemento es esencial para conseguir un buen funcionamiento y la máxima eficiencia. Igualmente importante, se debe controlar cuidadosamente la presencia de sustancias potencialmente nocivas, como sodio, potasio, azufre y mercurio, ya que estos pueden interferir con el proceso o dañar el medioambiente. La técnica más apta para llevar a cabo los análisis depende del material, de su ubicación y de los criterios específicos de la industria.

Cuando se requieren análisis precisos con una mínima preparación de la muestra, la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica interesante que considerar. Esta se ha convertido en el "estándar de oro" para análisis en muchas industrias. La XRF es especialmente apta al analizar sólidos, polvos, lodos, filtros y aceites. Para análisis en línea de materiales acarreados en transportadores de correa, el análisis de activación de neutrones térmicos rápida a pulso (PFTNA) es una técnica valiosa. El análisis elemental en tiempo real permite el control de avance y retroceso de la alimentación, lo cual es esencial en muchos procesos.

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Solución avanzada de metrología de película delgada de semiconductores

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Online elemental analyzers for effective control of many industrial processes

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Tipo de medición
Thin film metrology
Contaminant detection and analysis
Identificación química
Tecnología
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Pulsed Fast Thermal Neutron Activation (PFTNA)
Rango primario Be-U Na-Am, C-Am Be-U Be-U
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Resolución (Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
Rendimiento de muestra 160per 8h day - 240per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour