La gama de analizadores de fluorescencia de rayos X XRF Epsilon es una solución analítica ideal. Son capaces de realizar identificación y cuantificación de elementos simples hasta análisis más sofisticados. Son instrumentos fáciles de usar, compactos y protegidos contra rayos X, sin la necesidad de químicos adicionales o gases de servicio. Ahorros considerables en tiempo y costo son dos de los numerosos beneficios que la XRF puede brindar en comparación con las técnicas analíticas alternativas.
Gama Epsilon
Análisis elemental rápido y preciso junto a la línea y en la línea
Epsilon 1Analizador XRF pequeño, potente y portátil |
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Más detalles | |
Medición | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
Rango primario | Na-Am |
Resolución (Mg-Ka) | 135eV |
LLD | 1 ppm - 100% |
Rendimiento de muestra | Up to - 80per 8h day |
Tecnología | X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4Análisis elemental en la línea rápido y preciso |
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Más detalles | |
Medición | Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
Rango primario | C-Am |
Resolución (Mg-Ka) | 135eV |
LLD | 1 ppm - 100% |
Rendimiento de muestra | Up to - 160per 8h day |
Tecnología | X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon XflowInformación directa en sus procesos de producción |
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Más detalles | |
Medición | Elemental analysis |
Rango primario | Na-Am |
Resolución (Mg-Ka) | 135eV |
LLD | 1 ppm - 100% |
Rendimiento de muestra | on-line |
Tecnología | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 1Analizador XRF pequeño, potente y portátil |
Epsilon 4Análisis elemental en la línea rápido y preciso |
Epsilon XflowInformación directa en sus procesos de producción |
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Más detalles | Más detalles | Más detalles | |
Medición | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Thin film metrology, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis |
Rango primario | Na-Am | C-Am | Na-Am |
Resolución (Mg-Ka) | 135eV | 135eV | 135eV |
LLD | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% |
Rendimiento de muestra | Up to - 80per 8h day | Up to - 160per 8h day | on-line |
Tecnología | X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 1 |
Epsilon 4 |
Epsilon Xflow |
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Analizador XRF pequeño, potente y portátil |
Análisis elemental en la línea rápido y preciso |
Información directa en sus procesos de producción |
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Más detalles | Más detalles | Más detalles | |
Tipo de medición | |||
Elemental analysis | |||
Contaminant detection and analysis | |||
Tecnología | |||
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||
Rango primario | Na-Am | C-Am | Na-Am |
LLD | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% |
Resolución (Mg-Ka) | 135eV | 135eV | 135eV |
Rendimiento de muestra | Up to - 80per 8h day | Up to - 160per 8h day | on-line |
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