La mise en route d’analyses performantes en diffraction des rayons X nécessite des connaissances théoriques, précises et complètes.
Ce stage s’adresse aux utilisateurs d’équipements de diffraction X. Stage de remise à niveau des connaissances.

Résumé

Type de mesure:
Crystal structure determination
Phase quantification
Molecular structure
Date:
October 19 2020 - October 20 2020
Heure:
09:00 - 17:00
Central European Time [Central Europe]
Pays:
France
Emplacement:
Malvern Panalytical, 24 Rue Emile Baudot, Palaiseau, France, 91120
Type d'événement:
Classroom based training
Langue:
French
Produits:
Aeris range
Technologie:
X-ray Diffraction (XRD)

agenda

Jour 1 :

  • Notions élémentaires en cristallographie (symétries cristallines, indices de Miller…)
  • La production de rayons X
  • Les interactions rayonnement X/matière
  • Facteur de diffusion atomique
  • Conditions de diffraction – Loi de Bragg
  • Facteur de structure et intensité des raies de diffraction

Jour 2 :

  • Présentation des principales techniques de diffractions sur poudres/polycristaux
  • Analyse de phase
  • Analyse de texture
  • Analyse de contrainte
  • Analyse de profil de raies (taille de cristallites ; microdéformations)

Test d’évaluation des acquis et correction.

Discussion, appréciation du stage.

Présentateur

Loïc Mazé
Ingénieur Application XRD
DUT Mesures Physiques, Ingénieur Matériaux – Expérience en diffraction X depuis 2011

Questions les plus fréquentes

Malvern Panalytical est : 

  • Centre de formation agréé et enregistré auprès de la préfecture d'Ile de France sous le numéro 119408244 94.
  • Datadockée (c’est-à-dire référençable par les financeurs de la formation professionnelle continue).

Durée : 2 x 7 heures (9H00–12H30 – 13H30–17H00)

Pour en savoir plus

OBJECTIFS :

Rappeler ou compléter les éléments de base nécessaires à la pratique de la diffraction des rayons X dans les poudres et polycristaux.

PRÉREQUIS :

  • Notions de chimie et physique (Bac Pro) 
  • Niveau technicien