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Analyse élémentaire

Technologies pour l'analyse de la composition élémentaire des matériaux

L'analyse élémentaire de matériaux est souvent un paramètre critique en matière de qualité et de sécurité des produits. Par exemple, la composition élémentaire correcte de l'alimentation en matières premières d'un four à ciment est essentielle pour un bon fonctionnement et une efficacité maximale. 

Aspect tout aussi important, la présence d'éléments potentiellement nocifs, tels que le soufre, le sodium, le potassium et le mercure, doit être surveillée de près, car ceux-ci peuvent interférer avec le processus ou nuire à l'environnement. 

La technique la mieux adaptée pour réaliser une analyse élémentaire dépend du matériau, de son emplacement et des critères propres à l'industrie.

Techniques d'analyse élémentaire

De nombreuses techniques d'analyse élémentaire servent à comprendre la composition élémentaire des substances. Elles fournissent des informations précieuses sur la composition chimique des matériaux, aidant les chercheurs et les professionnels du secteur à prendre des décisions éclairées. Qu'il s'agisse d'analyser la pureté des produits pharmaceutiques, d'identifier les contaminants dans les aliments ou de caractériser des échantillons géologiques.

Fluorescence X (XRF)

La fluorescence X (XRF) est une technique non destructive qui repose sur l'émission de rayons X caractéristiques lorsqu'un échantillon est exposé à des rayonnements X. 

Elle est largement utilisée pour l'analyse élémentaire dans diverses applications, y compris l'identification des alliages, l'exploration minière et le contrôle qualité dans la fabrication.

Analyse de l'activation thermique/neutronique à pulsations rapides (PFTNA)

L'activation thermique/neutronique à pulsations rapides (PFTNA) est une technique spécialisée qui utilise des neutrons thermiques à pulsations rapides pour activer des matériaux. 

Elle offre des avantages uniques dans l'analyse des éléments traces et des isotopes dans divers échantillons, y compris les matériaux géologiques, environnementaux et nucléaires.

Plasma à couplage inductif (ICP)

L'ICP est une source de plasma à haute température qui stimule les atomes et les ions d'un échantillon, permettant une quantification précise des éléments. 

Il s'agit d'une technique polyvalente utilisée en analyse environnementale, en géochimie et dans la détermination d'éléments traces dans diverses matrices.

Spectroscopie d'absorption atomique (AAS)

L'AAS mesure l'absorption de la lumière par les atomes libres dans un échantillon. Elle est particulièrement utile pour quantifier les métaux traces dans les échantillons biologiques et environnementaux, ce qui la rend indispensable en chimie analytique.

Analyse par activation neutronique (NAA)

La NAA consiste à bombarder des échantillons avec des neutrons pour induire des réactions nucléaires. C'est une méthode sensible pour identifier et quantifier les éléments traces dans une large gamme de matériaux, des artefacts archéologiques aux échantillons médico-légaux.

Quelles sont les solutions d'analyse élémentaire proposées par Malvern Panalytical ?

Malvern Panalytical dispose d'une gamme d'analyseurs élémentaires offrant un choix de techniques d'analyse élémentaire. Lorsque des analyses précises avec une préparation d'échantillons minimale sont nécessaires, la fluorescence X (XRF) est une technique intéressante à envisager. Cette technique est devenue la « référence » pour l'analyse de la composition élémentaire dans de nombreuses industries. 

La fluorescence X est particulièrement adaptée lors de l'analyse de solides, de poudres, de boues, de filtres et d'huiles. Pour l'analyse en ligne de matériaux transportés sur bandes transporteuses, l'activation thermique/neutronique à pulsations rapides (PFTNA) constitue une technique très utile. Les analyses élémentaires en temps réel permettent un contrôle par rétroaction et prédictif, ce qui est essentiel dans de nombreux processus.

Notre gamme complète de solutions élémentaires répond à un large éventail d'applications, garantissant des résultats précis et fiables. Découvrez notre gamme d'instruments d'analyse élémentaire ci-dessous.

Zetium

Zetium

L'excellence élémentaire

Gamme Epsilon

Gamme Epsilon

Analyse élémentaire rapide et précise de et en ligne

Axios FAST

Axios FAST

Cadence d'analyse élevée

2830 ZT

2830 ZT

Solution avancée de métrologie des couches minces de semi-conducteurs

Gamme CNA

Gamme CNA

Analyseurs élémentaires en ligne pour un contrôle efficace de nombreux procédés industriels

Type de mesure
Métrologie des couches minces
Détection et analyse de contaminants
Identification chimique
Technologie
Fluorescence X à dispersion de longueur d'onde (WDXRF)
Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)
Activation thermique/neutronique à pulsations rapides
Plage élémentaire Be-Am F-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Résolution (Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
Débit d'échantillon 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour