La gamme d'analyseurs par fluorescence X (XRF) Epsilon est une solution d'analyse idéale. Ils sont capables d'identifier et de quantifier en toute simplicité des éléments et d'effectuer des analyses plus sophistiquées. Ce sont des instruments faciles à utiliser, compacts et sécurisés concernant les rayons X qui ne nécessitent pas l'ajout de produits chimiques ni de gaz d'exploitation. Les économies considérables de temps et de coût sont deux des nombreux avantages que la spectrométrie de fluorescence X (XRF) peut offrir par rapport à d'autres techniques d'analyse.
Gamme Epsilon
Analyse élémentaire rapide et précise de et en ligne
Epsilon 1Analyseur de spectrométrie de fluorescence X petit, puissant et mobile |
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| Plus de détails | |
| Mesure | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Plage élémentaire | Na-Am |
| Résolution (Mg-Ka) | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| Débit d'échantillon | Up to - 80per 8h day |
| Technologie | X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 4Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise |
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| Plus de détails | |
| Mesure | Métrologie des couches minces, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification |
| Plage élémentaire | C-Am |
| Résolution (Mg-Ka) | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| Débit d'échantillon | Up to - 160per 8h day |
| Technologie | X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon XflowUn aperçu direct de votre processus de production |
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| Plus de détails | |
| Mesure | Elemental analysis |
| Plage élémentaire | Na-Am |
| Résolution (Mg-Ka) | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| Débit d'échantillon | on-line |
| Technologie | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 1Analyseur de spectrométrie de fluorescence X petit, puissant et mobile |
Epsilon 4Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise |
Epsilon XflowUn aperçu direct de votre processus de production |
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| Plus de détails | Plus de détails | Plus de détails | |
| Mesure | Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Métrologie des couches minces, Elemental analysis, Contaminant detection and analysis, Elemental quantification | Elemental analysis |
| Plage élémentaire | Na-Am | C-Am | Na-Am |
| Résolution (Mg-Ka) | 135eV | 135eV | 135eV |
| LLD | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% |
| Débit d'échantillon | Up to - 80per 8h day | Up to - 160per 8h day | on-line |
| Technologie | X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | X-ray Fluorescence (XRF), Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) |
Epsilon 1 |
Epsilon 4 |
Epsilon Xflow |
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Analyseur de spectrométrie de fluorescence X petit, puissant et mobile |
Analyse élémentaire à proximité de ligne rapide et précise |
Un aperçu direct de votre processus de production |
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| Type de mesure | |||
| Elemental analysis | |||
| Contaminant detection and analysis | |||
| Technologie | |||
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||
| Plage élémentaire | Na-Am | C-Am | Na-Am |
| LLD | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% |
| Résolution (Mg-Ka) | 135eV | 135eV | 135eV |
| Débit d'échantillon | Up to - 80per 8h day | Up to - 160per 8h day | on-line |
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