Présentation générale

Une valeur ajoutée au-delà de la conformité

La spectrométrie par fluorescence des rayons X est une méthode sûre, économique et très fiable éprouvée dans le secteur de l'exploitation minière et des minéraux.
L'utilisation de l'Epsilon 4 dans les opérations de minéralurgie à proximité de ligne permet d'accélérer et d'optimiser les opérations de supervision dans les usines d'enrichissement de minerais.
L'illustration ci-dessous présente les valeurs ajoutées significatives obtenues par l'Epsilon 4, avec un investissement modeste unique.

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Fonctionnalités

Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse

Alliant les dernières technologies en matière d'excitation et de détection et une conception intelligente, les performances analytiques de l'Epsilon 4 se rapprochent de celles des spectromètres de fluorescence X plus puissants et posés au sol. L'excitation sélective et la mise en correspondance minutieuse de la sortie du tube de rayons X inhérentes aux fonctions du système de détection sous-tendent les performances exceptionnelles du système.

Puissance de la spectrométrie de fluorescence X de paillasse

Vaste gamme de solutions d'oxyde modulables (WROXI)

Panalytical Malvern a mis au point un ensemble unique de 19 étalons d'oxyde de large portée (WROXI) multi-éléments synthétiques. Conjointement avec l'Epsilon 4, WROXI peut être utilisé pour l'analyse des éléments majeurs et mineurs dans les perles. Avec l'algorithme FP du logiciel Epsilon, l'application WROXI peut déterminer des concentrations de 21 oxydes communs maximum dans un large éventail de roches, de minerais et de minéraux.

Vaste gamme de solutions d'oxyde modulables (WROXI)

Fonctionnement sans surveillance

La combinaison d'un passeur d'échantillon amovible à 10 positions et d'un porte-échantillon permet le traitement automatique de lots d'échantillons sans la nécessité d'une intervention de l'opérateur. La rotation continue de l'échantillon pendant la mesure réduit toutes les erreurs occasionnées par le manque d'homogénéité ou les irrégularités de surface dans les échantillons individuels et offre des résultats plus précis.
Le transfert automatique des données vers un emplacement central vous permet d'accéder aux derniers résultats.
Fonctionnement sans surveillance

Sensible et rapide

Des mesures rapides sont obtenues grâce à la toute dernière technologie de détection de dérive en silicium qui produit des intensités considérablement plus élevées.
Les composants électroniques uniques du détecteur permettent un taux de comptage linéaire de plus de 1 500 000 comptages/s (à 50 % du temps mort) et une résolution indépendante du taux de comptage généralement supérieure à 135 eV pour une séparation plus efficace des lignes d'analyse dans le spectre. Cela permet au spectromètre Epsilon 4 de fonctionner à pleine puissance et d'atteindre des cadences d'analyses bien plus élevées que celles des instruments de paillasse EDXRF classiques.
Sensible et rapide

Réduction de la consommation d'hélium

Les performances supérieures de l'Epsilon 4 permettent d'exécuter de nombreuses applications dans une atmosphère d'air, sans rallonger les délais et les frais généraux impliqués pour l'hélium ou l'entretien du système de vide. Lors de la mesure dans l'air, les photons de rayons X à faible énergie caractéristiques du sodium, du magnésium et de l'aluminium sont sensibles aux variations de la pression atmosphérique et de température. Les capteurs de température et de pression atmosphérique intégrés compensent ces variations atmosphériques, garantissant ainsi d'excellents résultats par tout temps.
Réduction de la consommation d'hélium

Spécifications

Manipulation des échantillonsTube à rayons XDétecteurLogiciels
Passeur d'échantillon amovible à 10 positionsFenêtre latérale en métal-céramique pour une stabilité optimaleHaute résolution, généralement 135 eV à Mn-KαCriblage élémentaire avec la solution d'analyse sans étalon Omnian
Le spectromètre peut accueillir des échantillons d'un diamètre maximal de 52 mm (2 pouces)Fenêtre de béryllium fine de 50 micromètres pour une haute sensibilité des éléments légers (Na, Mg, Al, Si)Taux de comptage maximal de 1 500 000 comptages/s à 50 % du temps mortAnalyse de RÉUSSITE/ÉCHEC avec la solution FingerPrint
Un porte-échantillon est inclus pour une plus grande précision de l'analyse des filtres à airTube à rayons X à anode argent pour de meilleures performances de l'analyse P, S et CIFenêtre de détecteur à entrée fine pour une haute sensibilitéCalibrage flexible unique pour les métaux d'usure dans des lubrifiants neufs et usés à l'aide d'Oil-Trace

Assistance

Équipements

Solutions pour optimiser votre retour sur investissement

Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.

Assistance

Service à vie

  • Assistance téléphonique et à distance
  • Maintenance préventive et contrôles
  • Contrats de service client flexibles
  • Certificat de performances
  • Mises à niveau matérielles et logicielles
  • Assistance locale et mondiale

Expertise

Ajout de valeur à vos procédés 

  • Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
  • Méthodes analytiques 
  • Solutions clé en main pour XRD 
  • Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
  • Automatisation des procédés de laboratoire
  • Services de conseils

Formation et éducation

  • Formation sur site ou dans nos centres de compétence
  • Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels

Services analytiques et matériel d'étalonnage

  • Services d'analyses d'experts (XRF)
  • Analyse d'oxydes et d'éléments traces
  • Matériel d'étalonnage personnalisé

Applications clés

Les spectromètres Epsilon 4 peuvent traiter une grande variété de types d'échantillons pesant quelques milligrammes ou des échantillons en vrac plus volumineux.

Les échantillons peuvent être mesurés comme :

  • Solides
  • Poudres compactes
  • Poudres libres
  • Liquides
  • Perles de fusion
  • Boues
  • Granules
  • Filtres
  • Films & revêtements