Présentation générale
Quantification robuste et modulable
Des résultats immédiats sont fournis pour une vaste gamme d'applications, comme l'inspection de la RoHS-3, des DEEE, des VHU, des jouets, des bijoux, des roches et des produits finaux. Cela est possible grâce à Omnian, le progiciel d'analyse sans étalon de pointe de PANalytical, également utilisé sur les instruments de spectrométrie de fluorescence X plus avancés.
En tant que solution originale, Omnian peut être utilisé pour analyser un large éventail de compositions élémentaires, du sodium à l'américium dans l'ensemble du tableau périodique.
Grâce à des calibrages dédiés, il est possible de suivre les méthodes de test internationales, comme ASTM F2617 (RoHS) ou d'analyser des éléments conformément aux spécifications décrites dans la norme ASTM F963 (jouets) et la norme CEI 62123 (éléments électroniques).
Conformité à la norme ASTM F2617-15-2 en matière de RoHS-3
La spectrométrie de fluorescence X est une solution éprouvée de criblage et de quantification des métaux et composés toxiques. La teneur en métaux toxiques dans les produits électroniques est réglementée par des directives internationales, telles que RoHS-3, DEEE, VHU, l'Administration sur le contrôle de la pollution causée par les produits d'information électronique (équivalent chinois de la RoHS) et d'autres directives. Toutes ces directives ont une portée sensiblement différente, mais les points communs sont la restriction du cadmium, du plomb, du mercure, du chrome hexavalent et de plusieurs agents ignifuges phényliques bromés. La norme ASTM F2617-15 est une méthode de test acceptée pour quantifier la concentration des éléments et composés restreints. Notre fiche technique démontre les capacités de l'Epsilon 1 à se conformer à la norme ASTM F2617-15, même avec une taille de point d'analyse de 0,8 x 1,2 mm.
Fonctionnalités
Analyse non destructive
Les mesures sont réalisées directement sur l'échantillon proprement dit avec peu ou pas de préparation d'échantillon. Dans la mesure où la spectrométrie de fluorescence X est une technique non destructive, l'échantillon peut également être mesuré ultérieurement par d'autres techniques d'analyse, si nécessaire.
Analyse de cartographie élémentaire
Les petites parties ou les petites inclusions dans des échantillons peuvent être facilement analysées à l'aide d'un faisceau de rayons X collimaté. La taille du point sur l'échantillon est généralement de 0,8 x 1,2 mm.
Positionnement de l'échantillon
À l'aide de la caméra couleur et du pointeur dans la photo, l'utilisateur peut positionner manuellement l'échantillon sur le point d'analyse de l'instrument.
Rapport d'analyse
Après chaque analyse, une photographie du point d'analyse est stockée sur l'ordinateur intégré. En un seul clic, un rapport d'analyse qui inclut la photographie est généré.
Applications clés
Spécifications
| Manipulation des échantillons | Tube à rayons X | Détecteur | Fonctions logicielles |
|---|---|---|---|
| Tout échantillon présentant des dimensions maximales de 15 x 12 x 10 cm (lxpxh) | Tube à fenêtre latérale en semi-céramique à haute stabilité de 15 watts | Haute résolution, généralement de 135 eV | Analyse sans étalon Omnian, prête à l'emploi pour n'importe quel échantillon |
| Positionnement de l'échantillon avec caméra couleur et pointeur projeté numérique | Courant max. de 1,5 mA garantissant une sensibilité maximale des traces | Détecteur SDD10 avec caapcité élevée du taux de comptage | Stockage automatique de l'image caméra |
| Protection contre les dommages et la poussière | Anode argent, idéale pour la plupart des éléments du système périodique | Fenêtre de béryllium fine hautement transparente | Mode opérateur pour une utilisation facile |
| Tension max. de 50 kV, idéale pour l'analyse d'éléments plus lourds | Mode avancé pour configurer des applications dédiées |
Accessoires
Étalons (matériaux de référence)
Logiciels
Logiciel Epsilon
La plate-forme logicielle Epsilon d'analyse par spectrométrie de fluorescence X est utilisée dans toute la gamme des systèmes de paillasse Epsilon 1 et Epsilon 4 EDXRF de PANalytical.
Stratos
Omnian
Le logiciel Omnian permet aux utilisateurs d'obtenir les meilleures analyses lorsqu'il n'existe aucune méthode dédiée ni d'étalons certifiés.
FingerPrint
Un module logiciel FingerPrint combiné avec un système EDXRF Epsilon est idéal pour les essais de matériaux lorsque la vitesse d'analyse est importante mais que la composition réelle ne présente aucun intérêt.
Sécurité renforcée des données
Assistance
Équipements
Solutions pour optimiser votre retour sur investissement
Pour garantir que votre instrument reste en parfait état et qu'il fonctionne au plus haut niveau, Malvern Panalytical offre toute une gamme de services. Notre expertise et nos services d'assistance assurent un fonctionnement optimal de votre instrument.
Assistance
Service à vie
- Assistance téléphonique et à distance
- Maintenance préventive et contrôles
- Contrats de service client flexibles
- Certificat de performances
- Mises à niveau matérielles et logicielles
- Assistance locale et mondiale
Expertise
Ajout de valeur à vos procédés
- Développement/optimisation de la préparation d'échantillons
- Méthodes analytiques
- Solutions clé en main pour XRD
- Opérations via QI/QO/QP, assurance qualité (BPL, ISO17025) ou études d'essais comparatifs/interlaboratoires
- Automatisation des procédés de laboratoire
- Services de conseils
Formation et éducation
- Formation sur site ou dans nos centres de compétence
- Large gamme de formations élémentaires et approfondies sur les produits, les applications et les logiciels
Services analytiques et matériel d'étalonnage
- Services d'analyses d'experts (XRF)
- Analyse d'oxydes et d'éléments traces
- Matériel d'étalonnage personnalisé