See the current NanoSight range . Learn more

Learn more

NanoSight NS500

Le NanoSight NS500 de Malvern est une plate-forme simple d'utilisation et reproductible dédiée à la caractérisation des nanoparticules.

Le NS500 donne une analyse détaillée et intuitive de la distribution de tailles et de la concentration de tous les types de nanoparticules de 10 à 2000 nm de diamètre (en fonction de la configuration de l'instrument et du type d'échantillon analysé). L'option d'analyse de potentiel Zeta du dispositif NS500 offre une mesure particule par particule, haute résolution, et peut être mesurée simultanément des autres paramètres NTA telles la taille et la concentration. Cette analyse peut également être opérée en mode fluorescence.

Les échantillons sont introduits dans la chambre de visualisation à l'aide des fonctions fluidiques intégrées. Le système de pompe contrôlé depuis le logiciel permet une manipulation automatique de l'échantillon : chargement, nettoyage et dilution. Des platines optiques motorisées et contrôlées par informatique permettent un repositionnement et une mise au point rapides après le nettoyage, améliorant ainsi la reproductibilité. Le contrôle de la température de l'échantillon est entièrement programmable depuis le logiciel d'analyse du suivi individuel de particules (NTA).

Contacter support Enregistrez vous maintenant

User manuals

Software downloads

05 October 2020

3.44

Capture

    • USB camera support.

Other

    • Improved logging. Instrument log files will no longer be overwritten at the start of each day.

    • Improved handling of corrupt/unreadable video files.

    • New script command for automated/unattended data export.

    • Resolved HASP issues in Windows 10 (Version 2004)

3.44

08 January 2019

3.40

Improvements including:

  • USB camera support
  • Improved logging
  • Improved handling of video files
  • New script commands for data export
3.40

27 July 2018

3.30

Improvements including:

  • New SOP pages
  • CFR
3.30

27 November 2015

3.20

Improved Automation

  • Auto-setup, auto-level, focus-level, and auto-focus script commands available
  • Script command to change experiment filename
  • Make background script commands added
  • Changes to continuous flow SOP scripts to ensure smooth flow

Exports

  • Laser color added to nanolog.csv and other outputs

Interface changes

  • Run button on Recent Measurements page
  • User direction messages for capture and process settings improved
  • User Positions 1 and 2 removed

Additional features

  • Optional CFR feature available – audited operation, secure login, data integrity checking, user level program configuration
  • CFR feature can be enabled by adding feature code to CFR security dongle
  • The CFR feature is available as a chargeable upgrade – Part No. PSS0054 for new builds, Part No. NTA4165 as an upgrade for customers running NTA 3.2 software

Other

  • Extended camera log for diagnostic purposes, can revert to daily usage via nano.ini
3.20

15 June 2015

3.10-I2

Improvements and Features

  • Concentration measurement upgrade option for NS500 and single and multi-laser NS300

Improved Automation

  • Automatic focus available for NS300 and NS500
  • Automatic camera level for all instruments

Data Display and Manipulation

  • Flexible data overlays for line graphs and scatter plots
  • CSV and PDF export options for overlaid data
  • Ability to report concentrations between specific size limits
  • Option to ‘exclude’ regions of particles from the scatter plot
  • Updated display for zeta plots

Interface changes

  • Quick access to recent experiments through dedicated tabbed window
  • Experiments display overlaid graphs and scatterplots on load
  • Improved flexibility and usability for graph settings
  • Filter wheel has its own hardware tab, with customisable buttons
  • Procedure guide for electrode air removal
  • Warnings to remind user of essential hardware checks/maintenance

Additional improvements

  • Refined camera levels to give more suitable settings for brighter particles
  • Refined detection threshold range
  • Speed optimised size distribution algorithm runs up to 20 times faster
  • Refined focus and stage controls for ease-of-use
  • Option to correct viscosity and dilution after making a measurement
  • Improved hardware auto-detection and reconnection menus
3.10-I2

30 March 2015

3.10-I1

Improvements and Features

  • Concentration measurement upgrade option for NS500 and single and multi-laser NS300

Improved Automation

  • Automatic focus available for NS300 and NS500
  • Automatic camera level for all instruments

Data Display and Manipulation

  • Flexible data overlays for line graphs and scatter plots
  • CSV and PDF export options for overlaid data
  • Ability to report concentrations between specific size limits
  • Option to ‘exclude’ regions of particles from the scatter plot
  • Updated display for zeta plots

Interface changes

  • Quick access to recent experiments through dedicated tabbed window
  • Experiments display overlaid graphs and scatterplots on load
  • Improved flexibility and usability for graph settings
  • Filter wheel has its own hardware tab, with customisable buttons
  • Procedure guide for electrode air removal
  • Warnings to remind user of essential hardware checks/maintenance

Additional improvements

  • Refined camera levels to give more suitable settings for brighter particles
  • Refined detection threshold range
  • Speed optimised size distribution algorithm runs up to 20 times faster
  • Refined focus and stage controls for ease-of-use
  • Option to correct viscosity and dilution after making a measurement
  • Improved hardware auto-detection and reconnection menus
3.10-I1

15 July 2014

3.0

Improvements and Features
  • Redesigned interface, focusing around repeat measurements
  • Improved particle size distribution algorithm
  • Automatic, integrated hardware detection and communication
  • Increased compatibility with networked computers
  • Easy setup with new installer package
  • Additional features
  • New file system with less files per experiment
  • Improved particle detection and tracking
  • Improved vibration correction
  • Settings stored in the registry rather than .ini file
3.0

23 February 2024

1.1

  • Project export and import
  • General workflow and existing feature improvements
  • Improved robustness for fluorescence measurements
  • Minor bug fixes

See SUN for more details.

1.1

14 September 2023

1.0

NS Xplorer is the software for the NS Pro instrument

  • 1st Release
1.0

Options de contrats d'entretien

Lorsque vous achetez un produit Malvern, cela ne constitue pour nous que la première étape d'une relation professionnelle qui continuera durant toute la durée de vie de l'instrument. Certains clients ont juste besoin de pouvoir poser une question occasionnelle ou télécharger une mise à jour du logiciel, alors que pour d'autres, un contrat d'assistance complet avec priorité d'appel et coût fixe sera nécessaire. Peu importe votre situation, Malvern fournira l'assistance adaptée à vos besoins.

Assistance technique

  • Assistance téléphonique et assistance par e-mail.
  • Votre appel est pris en charge par des opérateurs, qui s'assurent de répondre à votre requête. 

Formation

  • Formation sur site
  • Formation en nos locaux
  • Apprentissage en ligne

Centre de ressources

  • Notes d'application
  • Notes techniques
  • Présentations à la demande
  • Web-Conférences en direct

Téléchargements logiciels

  • Une façon simple de recevoir les mises à jour et les nouvelles fonctionnalités

Contrats de service Or et Platine :

  • Protection contre le coût des immobilisations
  • Pas de perte de temps pour obtenir l'aide dont vous avez besoin
  • Coût de propriété fixe

Contrats d'assistance Bronze :

  • Protéger la valeur de votre investissement
  • Diminuer le risque d'immobilisation
  • Protéger la validité de vos données
Contacter support