Gamme X'Pert³

La nouvelle plateforme améliorée X’Pert³

La nouvelle plateforme X'Pert³ succède à la gamme éprouvée X'Pert. Avec sa nouvelle électronique de contrôle embarquée, sa conformité aux normes de sécurité les plus strictes en terme de rayons X et de mécanique, ses améliorations dans l'éco-convivialité et sa fiabilité, la plateforme X'Pert³ est prête pour l'avenir.

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Produits pris en charge

Mesure: Reciprocal space analysis
Texture analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
Residual stress
Thin film metrology
Phase quantification
Phase identification

Accuracy: 1% (non-condensing)

Technologie: X-ray Diffraction (XRD)

X'Pert³ MRD

Mesure: 3D structure / imaging
Contaminant detection and analysis
Pore size distribution
Crystal structure determination
Surface area
Interface roughness
Residual stress
Thin film metrology
Phase quantification
Phase identification

Accuracy: 1% (non-condensing)

Technologie: X-ray Diffraction (XRD)

X'Pert3 Powder

Mesure: Residual stress
Thin film metrology
Phase quantification
Phase identification
Reciprocal space analysis
Texture analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness

Accuracy: 1% (non-condensing)

Technologie: X-ray Diffraction (XRD)

X'Pert3 MRD (XL)