| 商標 | 標章
|
|---|---|
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ® |
| (ASD Inc) logo | ® |
| Archimedes | ® |
| AXIOS | ® |
| Bohlin | ™ |
| CHI-BLUE | ® |
| Claisse | ® |
| CUBIX | ® |
| CUBIX3 (superindex the 3) | ® |
| dCore | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ® |
| EASY SAXS | ® |
| EMPYREAN | ® |
| EPSILON | ® |
| EPSILON X-FLOW | ® |
| EXPERT SAXS | ® |
| EASY SAXS | ® |
| FieldSpec | ® |
| FIPA | ® |
| FLUOR’X | ® |
| GALIPIX 3D | ® |
| Gemini | ™ |
| goLab | ™ |
| HandHeld 2 | ™ |
| HIGHSCORE | ® |
| Hydrosight | ™ |
| iCore | ™ |
| (i logo) | ® |
| Indico Pro | ™ |
| Insitec | ® |
| (Insitec logo) | ® |
| (Insitec Measurement Systems logo) | ® |
| ISys | ® |
| Kinexus | ® |
| (Kinexus logo) | ® |
| LabSizer | ™ |
| LabSpec | ® |
| LeNeo | ® |
| LeDoser | ™ |
| LeDoser-12 | ™ |
| M3 PALS | ™ |
| M4 | ™ |
| MADLS | ® |
| Malvern | ® |
| (Triangular hills logo + Malvern Instruments) | ® |
| Malvern in Chinese characters | ® |
| Malvern Instruments | ® |
| Malvern Instruments in Chinese characters | ® |
| Malvern Link | ™ |
| (Malvern Plus Hills Logo) | ® |
| Mastersizer | ® |
| Mastersizer 2000 | ™ |
| MC (stylised) | ® |
| MDRS | ® |
| Microcal | ® |
| Morphologi | ® |
| (Triangular hills logo) | ® |
| Nanosight | ® |
| NIBS | ™ |
| OIL-TRACE | ® |
| OMNIAN | ® |
| OMNISEC | ® |
| PANALYTICAL | ® |
| PANALYTICAL LOGO (picture) | ® |
| PANASSIST | ® |
| PANTOS | ® |
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXCEL | ® |
| PIXCEL 1D | ® |
| PIXCEL 3D | ® |
| QualitySpec | ® |
| (r logo) | ® |
| (Realogica logo) | ® |
| Rosand | ® |
| SEMYOS | ® |
| Spraytec | ™ |
| SST | ® |
| SST-MAX | ® |
| SUPER SHARP TUBE | ® |
| STRATOS | ® |
| SUPER Q | ® |
| SyNIRgi | ® |
| TerraSpec | ® |
| TheOx® Advanced | ® |
| Ultrasizer | ® |
| VENUS MINILAB | ® |
| ViewSpec | ™ |
| Viscogel | ® |
| Viscosizer | ® |
| Viscotek | ® |
| X’CELERATOR | ® |
| XPERT3 (superindex the 3) | ® |
| Zetasizer | ® |
| ZETIUM | ® |
| ZS Helix | ® |
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- CDA 1000 電気的検地帯方式粒子径分布測定装置
- Freeman FT4 粉体流動性分析装置
- Aeris 卓上型XRD
- ASD 可視・近赤外分光放射計
- Axios FAST WDXRF
- Claisse XRF/AA/ICP用試料前処理装置
- CNA オンライン・クロスベルト元素分析装置
- Empyrean 多目的XRD
- Epsilon 卓上型XRF
- Insitec プロセス用粒子径分布測定機
- Mastersizer 粒子径分布測定装置
- MicroCal ITC 分子間相互作用解析装置
- MicroCal DSC 生体分子安定性評価装置
- Morphologi 粒子画像分析装置
- NanoSight ナノトラッキング粒子径測定装置
- OMNISEC マルチ検出器GPC/SEC システム
- Parsum インライン粒子測定プローブ
- Spraytec 噴霧粒子およびスプレー液滴径測定
- X'Pert³ 研究用XRD
- Zetasizer 粒子径・ゼータ電位・分子量測定装置
- Zetium WDXRF
- 2830 ZT ウェハ分析用WDXRF
- ガラスビート法
- 画像分析 MDRS - 形態学的ラマン分光法
- 光散乱検出器 DLS - 動的光散乱法 レーザ回折法(LD) 光散乱電気泳動法 (ELS) 多角度光散乱（MALS） 静的光散乱法（SLS） ナノトラッキング（NTA）
- 液体クロマトグラフィー ゲル浸透クロマトグラフィー（GPC） サイズ排除クロマトグラフィー（SEC） 超高速液体クロマトグラフィー（UPLC）
- マイクロカロリメトリー DSC - 示差走査型カロリメトリー ITC - 等温滴定型カロリメトリー
- 空間フィルタ速度計測法
- 分光法 形態学的ラマン分光法（MDRS） 近赤外（NIR）分光法 パルス高速熱中性子放射化（PFTNA）
- X線分析 XRDーX線回折 XRFー蛍光X線 X線イメージング X線散乱
- ASD FieldSpec LabSpec TerraSpec 4 TerraSpec Halo QualitySpec Trek QualitySpec 7000
- Claisse Eagon 2 LeNeo LeDoser LeDoser-12 M4 rFusion TheOx Advanced
- Malvern Instruments Archimedes Insitec Mastersizer Morphologi OMNISEC Parsum Spraytec Viscotek Zetasizer
- MicroCal MicroCal DSC MicroCal ITC
- NanoSight NanoSight NS300 NanoSight LM10
- PANalytical Aeris Axios FAST CNA Cubix³ Empyrean Epsilon 1 Epsilon 4 Epsilon Xflow X'Pert³ Zetium 2830 ZT
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