XRF分析装置

XRF分析装置は、精密で非破壊的な元素分析を提供できることで知られる汎用性の高い装置です。これらの分析装置は、幅広い測定と洞察を提供できるため、さまざまな分野で非常に貴重です。

XRF装置の主な機能は、元素の定量化です。サンプルを高エネルギーX線に曝露することにより、XRF分析装置はサンプル内の元素の濃度を正確に測定できます。 

この定量化は、炭素や酸素などの軽元素から鉛やウランなどの重金属まで、周期表全体に及びます。研究者、製造業者、品質管理の専門家は、正確な元素データを得るためにXRF装置を使用しています。

XRF分析の際立った特徴の1つは、その非破壊性です。ICPなどの従来の化学分析法では、多くの場合、サンプルの破壊/溶解が必要となり、サンプルをさらなる試験や保存に使用できなくなります。 

しかし、XRF分光計を使用すると、材料を変更したり損傷したりすることなく検査できます。そのため、貴重な芸術作品、歴史的遺物、かけがえのない地質サンプルの分析に非常に有効です。

XRF分析装置は多元素解析に優れています。単一サンプル内の複数の元素を同時に検出および定量化することができ、その組成の包括的な全体像を提供します。 

この機能は、さまざまな元素成分を含む複雑な材料、合金、または地質サンプルを扱う場合に特に有利です。

XRF分析装置は、特定の種類の材料に限定されません。次のようなさまざまな種類のサンプルを分析できます。

• 固体: 金属、合金、ポリマー、セラミック、鉱物、地質サンプル。
• 液体: 溶液、スラリー、油など。
• 粉末: 医薬品粉末、粉末金属など。

この汎用性により、XRF装置は製造、製薬から地質学、環境科学に至るまで、さまざまな業界でしっかりと使用できます。

XRF分析装置は、以下を含むさまざまな元素を測定できますが、これらに限定されません。

• 鉄、銅、アルミニウムなどの一般的な金属。
• 金、銀、プラチナなどの貴金属。
• 鉛、ヒ素、水銀などの環境汚染物質。
• ネオジムやユーロピウムなどの希土類元素。

材料の特性評価、製品品質の確保、科学研究の実施などいずれの場合でも、XRF分光計はさまざまな業界の元素分析に不可欠なツールです。

Malvern Panalyticalは、元素および薄膜解析用の多用途蛍光X線分析装置と関連商品を提供します。これらのXRF分析装置は、広範な解析およびスループット要件、オペレーション環境に適合します。エネルギー分散型ベンチトップXRFシステムから波長分散型高パフォーマンスXRFシステム、半導体測定用製品までの分光計シリーズ

XRF分析装置は特定のX線蛍光分析タイプに応じた専用のソフトウェアオプションで構成できます。アプリケーションモジュール(アプリケーション構成、キャリブレーション、および標準試料)との組み合わせ、またはサンプル前処理製品を含むパッケージとして、完全な分析ソリューションが作成されます。Malvern Panalytical製品はすべて、アフターサービスおよびカスタマーサービス部門によってサポートされています。

ナレッジセンターでは、当社の分光計で実現できる多くの興味深いXRFアプリケーションに関する詳細情報をご確認いただけます。