Malvern Panalyticalでは、単色X線の弾性散乱を利用する実験技術を全面的にサポートしています。 取得したデータから、科学者や研究者はさまざまな材料や異なる長さスケールの寸法、構造、組成、および配向に関する情報を推測できます。

市場で入手できる他の装置と異なり、当社のゴニオメータベースのX線散乱プラットフォームであるEmpyrean Nanoエディションは、これらの実験技術をすべて単一装置で適用できる独自の柔軟性を備えています。

Empyrean Nanoエディション

Empyrean Nanoエディション

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細
測定 分子量, 粒子形状, 粒子サイズ, 比表面積, タンパク質凝集, Protein stability, 相同定, Phase quantification, Pore size distribution
ゴニオメータ構成 Vertical goniometer, Θ-Θ
測定範囲 1 - 100 nm
技術 X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

Empyrean Nanoエディション

Empyrean Nanoエディション

多目的X線散乱プラットフォーム

詳細
測定 分子量, 粒子形状, 粒子サイズ, 比表面積, タンパク質凝集, Protein stability, 相同定, Phase quantification, Pore size distribution
ゴニオメータ構成 Vertical goniometer, Θ-Θ
測定範囲 1 - 100 nm
技術 X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering