材料の元素組成は製品の品質と安全において非常に重要なパラメータになります。 たとえば、セメントキルンに正しい組成の原料を供給することは、円滑な運転と最大効率のために重要です。 同様に重要なことは、硫黄、ナトリウム、カリウム、水銀などの有害な元素が存在する場合は、工程を妨げたり環境に影響を与えたりする可能性があるため慎重に監視する必要があります。 分析を成功させるための最適な技術は、材料、場所、および業界固有の基準に応じて異なります。

最小限のサンプル調製で正確な分析を行う必要がある場合、蛍光X線(XRF)は検討する必要のある推奨される技術です。 この技術は、多くの業界で分析の「定番」となっています。 XRFは、特に固体、粉末、スラリー、フィルターおよびオイルの分析に適しています。 ベルトコンベアで搬送される材料のオンライン分析の場合、パルス高速熱中性子活性化(PFTNA)分析が有効な技術です。 リアルタイムの元素分析では、多くの工程で重要なフィードフォワードおよびフィードバック制御を行えます。

Zetium

卓上XRF装置 イプシロンシリーズ

Axios FAST

2830 ZT

CNA range

Zetium

卓越した機能

卓上XRF装置 イプシロンシリーズ

Axios FAST

優れたサンプルスループット

2830 ZT

先進の半導体薄膜測定ソリューション

CNA range

Online elemental analyzers for effective control of many industrial processes

詳細 詳細 詳細 詳細 詳細
測定タイプ
薄膜測定
Contaminant detection and analysis
化合的同定
技術
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
パルス高速熱中性子活性化
元素範囲 Be-U Na-Am, C-Am Be-U Be-U
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
分解能(Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
サンプル処理 160per 8h day - 240per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour