元素定量

XRFとPFTNAを使用した元素濃度の定量

多くのアプリケーションにおいて、元素濃度を把握することは、材料特性の管理や、健康規制や安全規制への準拠の保証に重要な要素です。 このため、多くの場合、単に元素の存在を検出するだけでは不十分で、それらの濃度を定量化する必要もあります。 

必要な精度は、アプリケーションに応じて異なります。

定量化手法

蛍光X線分析装置 と パルス高速熱中性子活性化 は、非破壊的で安定した簡単に使用できる分析技術で、広範なアプリケーションにおいてさまざまな材料の元素組成を決定できます。 元素濃度をこれらの技術で定量化するには、測定強度を認定されたリファレンス材料の強度、または既知の濃度を使用した社内標準試料の強度と比較します。 これらの標準試料は、正確な結果を得るために可能な限り、サンプル材料に似ている必要があります。 測定強度は、サンプルの物理的特性による影響も受けるため、ユーザーのソフトウェアによって対応できるさまざまな補正を適用することが必要な場合がよくあります。

標準レスなソフトウェア

多くの業界では、未知の組成のサンプル材料を、専用の標準試料なしですばやくスクリーニングする必要があります。 

このような場合、Omnianなど、標準試料なしの解析ソフトウェアは、全体的な元素組成を決定し、元素濃度の半定量的な値を提供します。

Zetium

Zetium

ハイエンド波長分散蛍光X線分析装置

高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ

高性能卓上XRF分析装置 Epsilonシリーズ

次世代を見据えた「元素分析の新時代」を切り開く、高機能・高感度の卓上型エネルギー分散型蛍光X線(EDXRF)装置です。

Axios FAST

Axios FAST

優れたサンプルスループット

2830 ZT

2830 ZT

先進の半導体薄膜測定ソリューション

CNAシリーズ

CNAシリーズ

多くの産業プロセスを効果的に制御するオンライン元素分析装置

測定タイプ
薄膜測定
汚染物質の検出と分析
化合的同定
技術
波長分散型蛍光X線
エネルギー分散型X線分析
パルス高速熱中性子活性化
元素範囲 Be-Am F-Am B-Am B-Am
最小検出下限 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
分解能(Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
サンプル処理 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour