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원소 분석

물질의 원소 조성 분석 기술

물질의 원소 분석은 보통 제품의 품질과 안전성에서 중요한 매개변수입니다. 예를 들어, 시멘트 가마(kiln)에 대한 정확한 원소 조성의 원료 공급은 원활한 작동 및 최대 효율을 위해 중요합니다. 

마찬가지로 중요한 것으로, 유황, 나트륨, 칼륨 및 수은과 같은 잠재적으로 유해한 성분의 존재는 공정에 지장을 주거나 환경을 손상시킬 수 있으므로 면밀하게 모니터링해야 합니다. 

원소 분석을 하는 데 가장 적합한 기술은 물질, 그 위치 및 산업별 기준에 따라 다릅니다.

원소 분석 기술

물질의 원소 조성을 이해하는 데 도움이 되는 많은 원소 분석 기술이 있습니다. 재료의 화학 성분에 대한 귀중한 정보를 제공하여 연구자와 업계가 정보에 입각한 결정을 내릴 수 있도록 도와줍니다. 의약품의 순도 분석, 식품 내 오염 물질 식별 또는 지질학적 샘플의 특성 분석 등 모든 분야에 적합합니다.

X선 형광(XRF)

X선 형광(XRF)은 샘플이 X선 방사선에 노출될 때 특징적인 X선의 방출을 활용하는 비파괴 기법입니다. 

합금 식별, 광물 탐사 및 제조 품질 관리를 비롯한 다양한 응용 분야의 원소 분석에 널리 사용됩니다.

펄스화된 빠른 열 중성자 활성화 분석(PFTNA)

펄스화된 빠른 열 중성자 활성화 분석(PFTNA)은 펄스화된 빠른 열 중성자를 사용하여 물질을 활성화하는 특수 기법입니다. 

지질, 환경 및 핵 물질을 포함한 다양한 샘플의 미량 원소 및 동위원소 분석에서 고유한 장점을 제공합니다.

유도 결합 플라스마(ICP)

ICP는 샘플의 원자와 이온을 자극하는 고온 플라스마 공급원으로, 원소를 정밀하게 정량화할 수 있습니다. 

환경 분석, 지구 화학 및 다양한 매트릭스의 미량 원소 측정에 사용되는 다목적 기법입니다.

원자 흡수 분광(AAS)

AAS는 샘플의 자유 원자에 의한 빛의 흡수를 측정합니다. 이는 생물학적 및 환경 샘플의 미량 금속을 정량화하는 데 특히 유용하여 분석 화학에서 필수적입니다.

중성자 활성화 분석(NAA)

NAA는 핵반응을 유도하기 위해 중성자를 샘플에 방사하는 것을 포함합니다. 고고학적 유물에서 법의학 시료에 이르기까지 다양한 물질의 미량 원소를 식별하고 정량화하는 고감도 방법입니다.

Malvern Panalytical에서는 어떤 원소 분석 솔루션을 제공합니까?

Malvern Panalytical에서는 다양한 원소 분석기를 제공하므로 원소 분석 기법을 선택할 수 있습니다. 최소 샘플 준비로 정밀한 분석이 요구되는 경우, 고려해야 할 매력적인 기술은 X선 형광(XRF)입니다. 이 제품은 여러 산업에서 원소 조성 분석의 “황금기준”이 되었습니다. 

XRF는 특히 고체, 분말, 슬러리, 필터 및 오일 분석에 적합합니다. 벨트 컨베이어로 운반되는 물질의 온라인 분석을 위해서는 펄스화된 빠른 열 중성자 활성화(PFTNA) 분석이 중요한 기술입니다. 실시간 원소 분석은 많은 공정에서 중요한 피드포워드(feed forward) 및 피드백(feed back) 관리를 가능하게 합니다.

당사의 포괄적인 원소 솔루션 제품군은 다양한 응용 분야에 적합하며 정확하고 신뢰할 수 있는 결과를 보장합니다. 아래에서 다양한 원소 분석 기기 제품군을 살펴보십시오.

Zetium

Zetium

구성요소의 탁월함

Epsilon 시리즈

Epsilon 시리즈

신속하고 정확한 앳라인 및 온라인 원소 분석

Axios FAST

Axios FAST

고속 샘플 처리

2830 ZT

2830 ZT

고급 반도체 박막 계측학 솔루션

CNA 시리즈

CNA 시리즈

다양한 산업 공정을 효과적으로 제어하기 위한 온라인 원소 분석기

측정 유형
박막 계측학
오염물 검출 및 분석
입자의 화학적 성분
기술 유형
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
PFTNA(Pulsed Fast and Thermal Neutron Activation)
원소 범위 Be-Am F-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
해상도(Mg-Ka) 35eV 145eV 35eV 35eV
샘플 처리량 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day 240per 8h day - 480per 8h day up to 25 wafers per hour