입자 크기뿐만 아니라 입자 형상도 많은 미립자 재료의 성능과 공정에 중요한 영향을 미칩니다. 입자 형상 측정을 사용해 제품 성능을 향상시킬 수 있는 예를 들면 다음과 같습니다.

  • 정제와 현탁액의 약물 입자의 생체 이용률
  • 금속과 세라믹 소결 성분의 재료 강도
  • 토너와 솔더 페이스트의 인쇄 품질
  • 크로마토그래피 컬럼의 패킹 특성
  • 미네랄 계열 코팅의 마감 품질
  • 태양광 패널 제조를 위한 SiC 연마재의 절삭 성능.

Malvern Panalytical은 0.5미크론에서 수 밀리미터까지 습식과 건식 분산 시료에 대해 입자 형상을 측정하는 영상 분석 기술을 기반으로 한 다양한 입자 특성 파악 계측기를 제공합니다.

Morphologi 시리즈

Morphologi 시리즈

수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술

자세한 내용은
측정 입자의 화학적 성분, 입자 형상, 입자 크기
입도 범위 0.5µm - 1000µm
기술 유형 이미지 분석
분산 유형 습식, 건식

Empyrean

Empyrean

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

자세한 내용은
측정 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 텍스처 분석, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
고니오미터 구성 Vertical goniometer, Θ-Θ
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean Nano 에디션

Empyrean Nano 에디션

다용도 X선 산란 플랫폼

자세한 내용은
측정 분자량, 입자 형상, 입자 크기, Surface area, 단백질 응집, Protein stability, 상 식별, Phase quantification, Pore size distribution
고니오미터 구성 Vertical goniometer, Θ-Θ
입도 범위 1 - 100 nm
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

Morphologi 시리즈

Morphologi 시리즈

수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술

Empyrean

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각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

Empyrean Nano 에디션

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다용도 X선 산란 플랫폼

자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은
측정 입자의 화학적 성분, 입자 형상, 입자 크기 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 텍스처 분석, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis 분자량, 입자 형상, 입자 크기, Surface area, 단백질 응집, Protein stability, 상 식별, Phase quantification, Pore size distribution
입도 범위 0.5µm - 1000µm   1 - 100 nm
고니오미터 구성   Vertical goniometer, Θ-Θ Vertical goniometer, Θ-Θ
기술 유형 이미지 분석 X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering
분산 유형 습식, 건식    

Morphologi 시리즈

Empyrean Nano 에디션

Morphologi 시리즈 Empyrean Nano 에디션

수준 높은 입자 특성 분석을 위한 자동 영상 처리 기술

다용도 X선 산란 플랫폼

자세한 내용은 자세한 내용은
측정 유형
입자 형상
입자 크기
입도 범위 0.5µm - 1000µm 1 - 100 nm
기술 유형
이미지 분석
X-ray Scattering