텍스처 분석

연구 및 생산에 적용

텍스처 이해는 필수적입니다. 예를 들면, 강철 및 알루미늄과 같은 금속 생산에서 텍스처는 기계적 강도(공구 삽입물의 경우)와 성형성 등 특성을 제어하는 매우 중요한 매개변수입니다. 광물학 및 지질학에서는 암석의 텍스처를 측정하여 지구의 변형 과정을 조사합니다. 방위 분포를 분석하면 인공물의 형성 과정 이해에 도움이 될 수 있습니다. 박막의 성장 조건을 조정하여 원하는 특성을 최적화할 수 있습니다(예: 하드 디스크 드라이브 물질 또는 초전도 선).

X선 회절 기법

회절도 피크는 특정 방위의 특정(hkl) 반사 강도를 나타냅니다. 회절분석기에 탑재된 샘플을 기울이고 회전하여 방위 구체(극점도)에 대한 반사의 강도 분포를 기록할 수 있습니다. 독립적인 결정 방위의 극점도 세트를 측정하면 결정질의 방위 분포 함수(ODF)를 계산할 수 있습니다.

우선 방위 발견

Malvern Panalytical에서는 X선 텍스처를 측정하는 다양한 솔루션을 제공합니다. Eulerian 크래들을 장착한 Empyrean 시스템도 형상과 크기가 다양한 샘플의 극점도를 측정하려는 물질 과학자에게 이상적인 X선 회절 시스템입니다. 측정을 평가하는 후속 분석에서는 Texture 소프트웨어 패키지를 사용하여 방위 분포 함수의 시각화 및 계산을 수행합니다. 

Empyrean

Empyrean

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD

다목적 연구 및 개발 XRD 시스템

X'Pert³ MRD XL

X'Pert³ MRD XL

다목적 연구, 개발 및 품질 관리 XRD 시스템

측정 유형
텍스처 분석
기술 유형
X-ray Diffraction (XRD)