Malvern Panalytical은 Empyrean을 통해 파우더, 박막, 나노물질 및 고형 물체 분석을 위한 최상의 X선 플랫폼을 개발하는 데 있어 새로운 표준을 정립했습니다.

이는 다른 연구 프로젝트와 비교 시, 기기에 대한 요구 수명이 더욱 길어지고 있는 오늘날의 재료 연구 분야의 도전 과제에 대해 Malvern Panalytical이 제시하는 답입니다.

Empyrean은 진정한 다목적 연구용 X선 플랫폼입니다. 다른 시스템과 달리 Empyrean은 현재뿐 아니라 미래까지 고려하여 설계되었습니다.

Empyrean

Empyrean

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

자세한 내용은
측정 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 텍스처 분석, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
고니오미터 구성 Vertical goniometer, Θ-Θ
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean Nano 에디션

Empyrean Nano 에디션

다용도 X선 산란 플랫폼

자세한 내용은
측정 분자량, 입자 형상, 입자 크기, Surface area, 단백질 응집, Protein stability, 상 식별, Phase quantification, Pore size distribution
고니오미터 구성 Vertical goniometer, Θ-Θ
입도 범위 1 - 100 nm
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering

Empyrean Alpha-1

Empyrean Alpha-1

실험실 XRD 시스템의 독보적인 데이터 품질

자세한 내용은
측정 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, 3D structure / imaging
고니오미터 구성 Vertical goniometer, Θ-Θ
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD)

Empyrean

Empyrean

각종 분석 수요에 대응하는 다목적 솔루션

Empyrean Nano 에디션

Empyrean Nano 에디션

다용도 X선 산란 플랫폼

Empyrean Alpha-1

Empyrean Alpha-1

실험실 XRD 시스템의 독보적인 데이터 품질

자세한 내용은 자세한 내용은 자세한 내용은
측정 Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, 텍스처 분석, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis 분자량, 입자 형상, 입자 크기, Surface area, 단백질 응집, Protein stability, 상 식별, Phase quantification, Pore size distribution Crystal structure determination, 상 식별, Phase quantification, 3D structure / imaging
고니오미터 구성 Vertical goniometer, Θ-Θ Vertical goniometer, Θ-Θ Vertical goniometer, Θ-Θ
입도 범위   1 - 100 nm  
기술 유형 X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering X-ray Diffraction (XRD)