개요
정확하고 신속한 분석
ICH Q3D 및 USP<232>와 같은 규정 요건 준수를 위해 Malvern Panalytical은 독성 원소, 촉매 잔류물 또는 PGM 입자 분석용으로 다양한 셀룰로스 기반 시스템 보정 표준 물질을 제공합니다. 시스템 IQ 및 OQ 패키지를 통해 검증 및 데이터 무결성 요건에 대한 지원이 제공되며, 사용자 인증 및 분석 감사(FDA 21 CFR Part 11)를 위한 Enhanced Data Security 소프트웨어도 제공됩니다. 불순물 분석 및 잠재적인 위조 약물 검출을 위해서는 양성 물질 식별 솔루션인 FingerPrint를 사용할 수 있습니다.
아래 그림은 한 번의 적절한 비용 투자 대비 Epsilon 4를 통해 부가적으로 얻을 수 있는 가치를 보여줍니다.
특징
벤치톱 XRF의 장점
최신 여기 및 검출 기술과 지능형 설계를 결합한 Epsilon 4의 분석 성능은 더욱 강력한 스탠드형 분광기의 성능에 근접합니다. 선택적 여기와 함께 X선 선관 출력과 검출기 시스템 용량 간 세밀한 매칭을 통해 탁월한 시스템 성능을 제공합니다.
낮은 운용 비용
Epsilon 4는 ICP와 AAS에서는 필수적인 고가의 산성 물질, 가스 및 배기용 후드 사용이 불필요합니다. 주 전원과 일부의 경우 샘플 내 경원소의 감도를 높이기 위한 헬륨의 사용만 필요합니다. 또한 XRF 분광기의 개별 구성품은 마찰이나 열에 노출되는 일이 없기 때문에 수년간 높은 내구성을 유지합니다.
비파괴 분석
Epsilon 4를 사용한 측정은 샘플 준비가 거의 또는 아예 필요 없이 가루 분말 또는 정제와 캡슐 같은 완제품에서 직접 수행됩니다. XRF는 비파괴 기법을 사용하기 때문에 필요한 경우 계속해서 다른 분석 기법을 사용하여 샘플을 측정할 수도 있습니다.
IQ 및 OQ 관련 문서
Epsilon 4를 위한 설치 및 작동 적격성 평가 절차서가 제공됩니다. 이러한 절차서는 우수실험실관리기준(GLP), 우수의약품제조관리기준(GMP) 및 FDA 21 CFR Part 11 규정을 만족하기 위해 해당 회사에 요구되는 기기 점검 및 검증 절차를 제공합니다.
제약 설정 샘플
규정 요건을 만족하기 위해 Malvern Panalytical은 독성 원소, 촉매 잔류물 또는 그룹 1, 2A, 2B 및 3의 PGM 입자에 대한 다양한 셀룰로스 기반 시스템 설정 샘플을 제공합니다. 이러한 표준 물질은 0 ~ 200mg/kg 범위의 농도를 가진 17가지 원소를 포함합니다. 3가지 별도의 세트에 5가지 서로 다른 표준 물질과 검증 샘플이 들어 있습니다.
더 빠른 분석 속도와 더 높은 감도
더욱 높은 강도를 발생하는 최신 실리콘 드리프트 검출기 기술을 사용하여 신속한 측정이 가능합니다.
검출기의 고유한 전자 장치는 1,500,000cps(50% 불감 시간(dead time)에서)를 초과하는 선형 계수율 용량 및 스펙트럼의 분석 라인의 분리 개선을 위해 일반적으로 135eV보다 더 높은 계수율 비의존성 분해능을 제공합니다. 이를 통해 Epsilon 4 분광기는 최대 출력에서 작동할 수 있으며 따라서 기존 EDXRF 벤치톱 기기보다 훨씬 높은 시료 처리량을 제공합니다.
사양
| 샘플 처리 | X선관 | 검출기 | 소프트웨어 |
|---|---|---|---|
| 10개 위치의 탈착식 샘플 교체기 | 금속-세라믹 측면 창으로 최대 안정성 제공 | 고분해능 실리콘 드리프트 검출기(SDD), 일반적으로 135eV @ Mn-Kα | Omnian 무표준 분석 솔루션을 사용한 원소 스크리닝 |
| 분광기에 최대 52mm 직경의 샘플(가루 분말, 액체, 슬러리 및 고체) 수용 가능 | 경원소(Na, Mg, Al, Si) 분석에서 높은 감도를 제공하는 50마이크로미터의 얇은 베릴륨 창 | 최대 50% 불감 시간(dead time)에서 1,500,000회/s의 계수율 | FingerPrint 솔루션을 통한 통과/실패 분석 |
| 액체, 슬러리 및 분말에 대한 더 정확한 결과를 얻기 위해 스피너 포함 | P, S 및 Cl 분석에서 최상의 성능을 제공하는 Ag 양극 X선 선관 | 높은 감도를 제공하는 얇은 입구 검출기 창 | FDA 21 CFR Part 11 요건을 만족하는 고급 데이터 보안을 위한 감사 추적 소프트웨어 옵션 |
악세서리
표준(참조 물질)
소프트웨어
Epsilon 소프트웨어
Epsilon 소프트웨어는 PANalytical의 Epsilon 1 및 Epsilon 4 제품군 탁상용 EDXRF 시스템과 함께 사용할 수 있는 XRF 분석 소프트웨어 플랫폼입니다.
FingerPrint
Epsilon EDXRF 시스템과 결합한 FingerPrint 소프트웨어 모듈은 실제 조성은 분석 대상이 아니지만, 분석 속도가 중요한 경우의 물질 테스트에 이상적입니다.
지원팀
서비스
투자 수익 극대화를 위한 솔루션
장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.
지원팀
평생 서비스
- 전화 및 원격 지원
- 예방적 유지보수 및 점검
- 유연한 고객 관리 계약
- 성능 인증서
- 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
- 지역 및 글로벌 지원
전문 기술
공정에 가치 추가
- 샘플 준비 개발/최적화
- 분석 방법
- XRD를 위한 턴키 솔루션
- IQ/OQ/PQ, 품질 보증(GLP, ISO17025) 또는 순차순환/연구실 간 연구를 통한 운영
- 연구실 공정 자동화
- 자문 서비스
훈련 및 교육
- 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
- 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정
분석 서비스 및 교정 물질
- 전문가(XRF) 분석 서비스
- 산화물 및 미량 분석
- 맞춤형 교정 물질
주요 응용 분야
Epsilon 4 분광기는 무게가 밀리그램에서 대형 벌크 샘플에 이르는 다양한 샘플을 처리할 수 있습니다.
샘플을 다음 형태로 측정할 수 있습니다.
- 고체
- 압축 분말
- 가루 분말
- 액체
- 용융 비드
- 슬러리
- 과립
- 필터
- 필름 및 코팅
