개요
원소 혁신
지속적 개발, 향상된 고객 경험
WDXRF 및 EDXRF를 통합한 SumXcore 기술로 달성한 과학적으로 타당하고, 이익 중심 혁신이 Zetium 플랫폼에 통합되어 최고의 유연성, 성능 및 다양성을 제공하며 XRF 세계에 혁신을 일으킬 수 있습니다.
원소 정보
고급 분석 하드웨어에는 고급 분석 소프트웨어 및 전문 지식이 필요합니다
당사의 유명한 SuperQ 소프트웨어를 위한 양자 단계는 새로운 기술 조합과 분석 가능성에 대한 접근을 제공합니다. Virtual Analyst를 이용하면 시스템을 설정하고 운영하는데 있어 사용자 경험이 향상됩니다.
원소 지원
위치에 관계없이 투명하고 신뢰할 수 있는 지원
서비스부터 전문 기술, 교육에서 연구실 분석에 이르기까지 모든 각도에서 사용자를 지원합니다. 숙련된 엔지니어로 이루어진 전 세계 네트워크와 업계 최대 규모의 응용 과학자 풀을 통해 Malvern Panalytical은 항상 분석 요건을 충족할 수 있도록 도와드립니다.
원소 기술
60년의 경험과 전통 - 이상적인 출발점
Zetium은 Axios, MagiX 및 PW2400을 포함하여 현저히 성공적인 WDXRF 분광기의 차세대 제품입니다. 이러한 입증된 기술의 전통으로 입증된 기술의 전통을 갖는 이 제품은 꾸준히 개선되어 왔으며 Zetium 플랫폼의 기초를 제공합니다.
특징
분석 성능 향상
- 1에서 2.4, 3 또는 4 kW로의 전력 업그레이드를 통한 감도 향상
- 특정 응용 분야 성능을 위한 X선관 양극 재료의 범위 Rh, Cr, Mo 및 Au
- 듀플렉스 검출기를 통한 감도 향상 및 전이 금속 분석을 위한 넓은 감지 범위
- 중원소(선형 최대 3.5Mcps)에서 강철 내 Nb 및 Mo의 고정밀 분석이 가능하도록 감지 범위를 더욱 넓힌 HiPer 섬광계수기
탁월한 사용자 경험
- Virtual Analyst를 사용한 간단하고 직관적인 소프트웨어
- 전체 응용 프로그램 설치 모듈 및 소프트웨어 솔루션 제품군
- Omnian을 이용한 업계 최고의 표준 XRF 분석 - 미지 또는 표준을 사용할 수 없는 경우의 분석
- 매핑을 통한 다중 원소 미소 부위 분석
- 6 mm와 37 mm 사이 샘플 크기를 위한 프로그램 가능한 콜리메이터 마스크
최대 샘플 처리량
- SumXcore 기술 - ED core로 최대 50%까지 측정 시간 단축
- 보다 빠른 분석 시간을 위해 1에서 2.4, 3 또는 4 kW로의 전력 업그레이드
- 경량 원소의 동시 측정을 위한 Hi-Per 채널
- 연속적이고 직접적인 샘플 로딩으로 장비 오버 헤드의 유의한 감소
- 높은 처리량의 응용 프로그램을 위한 고성능 샘플 교환기 베드(최대 209 개 위치)
- 샘플 교체기 바코드 판독기 옵션 선택 시 신속하고 오류 없는 샘플 로딩 및 데이터 입력 가능
견고성
- 먼지 제거 기기로 오염의 최소화 및 장비 가동 시간의 극대화
- X선관의 내구성 및 부식 저항성을 높여주는 CHI-BLUE X선관 창 코팅
- 샘플 유형 식별(고체 및 액체)
- 오류 없는 샘플 입력을 위한 바코드 판독기
낮은 소유 비용
- 공간 절약형, 컴팩트 디자인
- 소형 볼륨의 에어락 설계로 샘플을 빠르게 진공 상태로 전환, 액체 분석 시 낮은 He 소비량
- 손쉬운 액세스 서비스 모듈은 장비의 서비스 편의성과 다운 타임 최소화
- 연구실의 열을 제거하는 전용 냉각기로 에어 컨디셔너 인프라에 대한 과다 비용 지출 방지
- 패키지 비용 절감 솔루션
Industry 에디션
특정 산업을 위한 맞춤형 솔루션
악세서리
옵션
시스템 향상 패키지
- 작업 중심의 성능 향상
- 높은 샘플 처리량 - 증가된 샘플 교환기 용량 및 최저 장비 간접비
- 먼지가 있는 샘플 및 액체 유출 방지
- 바코드 판독기로 오차 없는 샘플 도입
- 미소부위 분석을 포함한 다양한 샘플 유형 처리
SumXcore
ED 코어
Zetium 플랫폼은 WDXRF 및 EDXRF를 통합한 SumXcore 기술을 구현합니다. 이러한 가능성의 고유한 조합은 분석능, 속도 및 작업의 유연성 면에서 타의 추종을 불허합니다.
결합된 WD/ED XRF의 장점
- 동시 SumXcore 작업 유연성 극대화 및 성능 향상
- 측정 시간을 최대 50%까지 극적으로 단축하거나 정밀도를 높여 이점 제공
- 최적의 성능 유연성을 위해 다양한 신호 감쇠 기능을 갖춘 고해상도 SDD 검출기
- ppm - 100 % 농도의 Na - Am의 원소 분석,
- 측정 시간을 늘리지 않고도 공정 요소 분석에 영향을 줄 수 있는 예기치 못한 원소 추적
- 모든 측정에 대해 두 개의 독립적 결과를 통한 QA/QC 프로그램 향상 및 품질에 대한 신뢰성 증가
SuperQ 6과 Virtual Analyst
Virtual Analyst는 표준 구성, 실제 측정 및 사용자 데이터 목표와 같은 여러 출처의 정보를 사용하여 시스템의 응답을 계산하고 설정하고 방법을 완료합니다.
- Zetium 플랫폼 성능 액세스
- 작업 중심 흐름으로 간단하고 직관적임
- 금속에서 폴리머에 이르기까지 데이터의 정확성을 향상시키기 위한 고급 매트릭스 교정 기능
- Virtual Analyst - 수십 년간의 전문 노하우 구현.
매핑을 이용한 미소부위 분석
원소 분포 매핑을 이용한 미소부위 분석은 물질에 대한 연구 및 생산 공정 문제 해결에 이상적인 도구입니다. 더 이상 연구 시설에 국한되지 않고 이제 어디서나 이 기술을 이용할 수 있습니다.
- 물질 연구 및 생산 공정 문제 해결에 이상적
- 실용적 분석 시간
- 높은 감도를 위한 근접 결합 광학 경로
- 부위에 따라 신속하고, 동시적인 다중 원소 분석을 위한 ED 코어 사용
- 500 µm 스팟 크기(FWHM), 100 µm 스팟 크기
- 정량, 정성 및 무표준 Omnian 분석
- 간단한 샘플 준비
