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2830 ZT

2830 ZT 파장 분산형 X선 형광(WDXRF) 웨이퍼 분석기는 필름 두께와 구조 측정을 위한 완벽한 기능을 갖추고 있습니다. 반도체 및 데이터 저장 산업을 위해 특수하게 설계된 2830 ZT 웨이퍼 분석기는 최대 300mm에 이르는 다양한 웨이퍼에 대해 층 구조, 두께, 불순물 수준, 표면 균일성을 측정할 수 있습니다.
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Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained

October 2019 | English

Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained

제품:
2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Axios FAST, Claisse range, CNA 시리즈, Epsilon range, Zetium
기술 유형:
X-ray Fluorescence (XRF), Borate fusion
산업:
고급 제조, 반도체/전자제품, 자동차, 건축자재, 식품 및 음료, 금속, 광업, 과학 수사 분석, 유류, 연료 및 화학물질, 화학, 제약, 수처리, 폴리머
Elemental Analysis Masterclass 2 - Wavelength & Energy Dispersive XRF Explained
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Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)

October 2019 | English

Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)

제품:
Zetium, CNA 시리즈, Claisse range, 2830 ZT (XRF Wafer Analyzer), Epsilon range, Axios FAST
기술 유형:
X-ray Fluorescence (XRF), Borate fusion
산업:
고급 제조, 반도체/전자제품, 금속, 수처리, 제약, 과학 수사 분석, 식품 및 음료, 건축자재, 유류, 연료 및 화학물질, 화학, 광업, 자동차, 폴리머
Elemental Analysis Masterclass 1 - the theory of X-ray Fluorescence (XRF)

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  • 전문가(XRF) 분석 서비스
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