Камеры с условиями, отличающимися от окружающих

Комплексное решение для локального рентгеновского анализа

Локальный рентгеновский анализ часто относят к измерениям, проводимым в условиях, отличных от окружающих. Это основной вид анализа, используемый при исследовании материалов в научной и промышленной среде.

Любое макроскопическое свойство материала напрямую зависит от его структурных свойств (например, кристаллографическая симметрия, размер кристаллитов, пустоты, размер и форма наночастиц или пор). Температура, давление, изменяющаяся газовая атмосфера и механическое напряжение запускают трансформацию фаз, химические реакции, рекристаллизацию и так далее.

Рентгеновская дифракция (XRD) и рентгеновское рассеяние — первые, а иногда и единственные методы, которые можно использовать для точной локальной характеризации этих изменений. Локальный рентгеновский анализ является самым комплексным инструментом решения проблем при оптимизации производственного процесса, настройке процесса синтеза, проведении передового исследования или разработке нового материала.

HTK16N_270x100.jpg
HTK2000N_270x100.jpg
HTK2000N_270x100.jpg

HTK 16N — ленточный нагреватель

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии отражения при быстром нагреве до 1600 ºC.

HTK 1200N — нагреватель печи

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии пропускания и отражения, анализ основного напряжения, SAXS, PDF и анализ тонких пленок при температурах до 1200 ºC.

HTK 2000N — ленточный нагреватель

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии отражения при быстром нагреве до 2000 ºC.

TTK 600 270x100.jpg
CHC_270x100 teasers.jpg
MHCTrans_270x100 teasers.jpg

TTK 600 — низкотемпературная камера

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии пропускания и отражения, анализ основного напряжения и тонких пленок при температурах от -190 °C до +600 °C.

CHC plus+ — криокамера с измеряемой влажностью воздуха

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии отражения, анализ основного напряжения и тонких пленок при контролируемых показателях температуры и влажности.

MHC-trans — камера с изменяемой влажностью для работы с несколькими образцами

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии пропускания, базовые измерения SAXS при контролируемых показателях температуры и влажности.

Phenix_270x100 teasers.jpg
Cryostream_270x100 teasers.jpg
Chimera_270x100 teasers.jpg

Phenix — низкотемпературный криостат

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии отражения, анализ основного напряжения и тонких пленок при температурах от -261 °C (12 K) до 25 °C (298 K).

Cryostream Plus compact

Для порошковой рентгеновской дифракции, базовые измерения SAXS и PDF с использованием капиллярной геометрии при температурах от -193 °C (80 K) до 227 °C (500 K).

Chimera — охлаждающая и нагревающая камера

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии отражения, анализ основного напряжения и тонких пленок при температурах от -203 °C (70 K) до 252 °C (525 K).

HPC900_270x100 teasers.jpg
XRK900_270x100 teasers.jpg
DCS350_2_270x100 teasers.jpg

HPC 900 — камера высокого давления

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии отражения, анализ основного напряжения и тонких пленок при температурах до 900 °C и давлении до 100 бар.

XRK 900 — реактивная камера

Для порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии отражения, анализ основного напряжения и тонких пленок при температурах до 900 °C и давлении до 10 бар с различными газами.

DCS 500 — купольная платформа с охлаждением

Для расширенного анализа тонких пленок и измерения напряжений при температурах от -180 до 500 ºC.

DHS1100_270x100 teasers.jpg
BTS 150_500 270x100.jpg

DHS 1100 — купольная температурная платформа

Для расширенного анализа тонких пленок, напряжения, текстуры и основной порошковой рентгеновской дифракции с использованием геометрии отражения при температурах до 1100 ºC.

BTS 150/500 — компактные нагревательные платформы

Компактные нагревательные платформы Anton Paar BTS 150 и BTS 500 — экономичное решение для локальной рентгеновской дифракции (от -10 до +500 °C).

Загрузите брошюру, чтобы узнать о модулях для условий, отличных от окружающих, и их областях применения.