Рентгеновские дифрактометры Malvern Panalytical предназначены для получения данных дифракции самого высокого качества. Эти приборы отличаются простотой использования и гибкостью, которая позволяет быстро переходить на другие применения.

Наши дифрактометры используются в различных областях: от университетов и исследовательских институтов до лабораторий управления промышленными процессами. Независимо от ваших потребностей в рентгеновской дифракции (XRD) мы предлагаем подходящий прибор, а также поддержку нашей международной сети продаж и сервисного обслуживания.

Наши универсальные дифрактометры оснащены модулями PreFIX (предварительно юстированные быстрозаменяемые рентгеновские модули), что позволяет пользователю легко менять оптическую схему. Поэтому мы предлагаем самое большое количество применений на одной платформе дифрактометрии. Подробнее о разнообразных применениях XRD, поддерживаемых нашим оборудованием, читайте в нашей базе знаний.

Серия Empyrean

Серия Empyrean

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Подробнее
Измерение Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав), Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Aeris

Выполнение рентгеновской дифракции (XRD) стало проще

Подробнее
Измерение Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification
Материал анода рентгеновской трубки Cu /Co (option)
Технология X-ray Diffraction (XRD)

Серия Empyrean

Серия Empyrean

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Aeris

Aeris

Выполнение рентгеновской дифракции (XRD) стало проще

Подробнее Подробнее
Измерение Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав), Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Epitaxy analysis, Interface roughness, 3D structure / imaging Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification
Конфигурация гониометра Vertical goniometer, Θ-Θ  
Материал анода рентгеновской трубки   Cu /Co (option)
Технология X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)

Aeris

Серия Empyrean

X'Pert³ MRD

X'Pert³ MRD XL

Aeris Серия Empyrean X'Pert³ MRD X'Pert³ MRD XL

Benchtop X-ray diffractometer

Многоцелевое решение для ваших аналитических задач

Versatile research & development XRD system

Versatile research, development & quality control XRD system

Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Технология
X-ray Diffraction (XRD)
Анализируемые свойства
Форма частиц
Размер частиц (гранулометрический состав)
Crystal structure determination
Идентификация фаз
Phase quantification
Contaminant detection and analysis
Epitaxy analysis
Interface roughness
3D structure / imaging
Исследования тонких пленок
Residual stress