Рентгенофлуоресцентные спектрометры (XRF)

Специализированные рентгенофлуоресцентные спектрометры для анализа элементного состава

Компания Malvern Panalytical предлагает широкий спектр рентгенофлуоресцентных спектрометров и сопутствующей продукции для элементного анализа и анализа тонких пленок. Эти рентгенофлуоресцентные анализаторы предназначены для широкого диапазона областей применения, в которых важную роль играют мощные аналитические возможности, скорость выполнения анализа и условия эксплуатации. Они представлены в широком диапазоне от настольных энергодисперсионных рентгенофлуоресцентных спектрометров до рентгенофлуоресцентных спектрометров с волновой дисперсией и оборудования для измерений на полупроводниках.

Рентгенофлуоресцентные спектрометры могут быть настроены с помощью специального программного обеспечения для определенных типов XRF-анализа. В сочетании с прикладными модулями (конфигурация, калибровка и стандарты) или в комплекте с оборудованием для подготовки образцов вы получаете полные аналитические решения. Вся продукция Malvern Panalytical поддерживается службой послепродажного обслуживания и отделом обслуживания клиентов.

В нашем Центре знаний вы найдете более подробную информацию о самых интересных способах применения рентгеновской флуоресценции (XRF) с помощью наших спектрометров.

Zetium

Zetium

Элементное превосходство

Подробнее
Epsilon 1

Epsilon 1

Компактный, мощный и портативный рентгенофлуоресцентный анализатор

Подробнее
Epsilon 4

Epsilon 4

Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией

Подробнее
Epsilon Xflow

Epsilon Xflow

Прямой мониторинг производственного процесса

Подробнее
2830 ZT

2830 ZT

Передовое решение для анализа тонких пленок полупроводников

Подробнее
Axios FAST

Axios FAST

Высокая производительность

Подробнее
Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее Подробнее
Анализируемые свойства
Исследования тонких пленок
Элементный анализ
Обнаружение и анализ загрязнителей
Элементный количественный анализ
Химический состав
Технология
X-ray Fluorescence (XRF)
Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF)
Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF)
Диапазон элементов Be-Am F-Am F-Am Na-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
Разрешение (Mg-Ka) 35eV 135eV 135eV 135eV 35eV 35eV
Скорость обработки образца 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 80per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day