Серия Empyrean

Модель Empyrean позволила компании Malvern Panalytical установить новый стандарт в разработке современных платформ для рентгеновских исследований порошков, тонких пленок, наноматериалов и твердых объектов.

Эта система стала ответом компании Malvern Panalytical на трудности анализа современных материалов, где срок службы дифрактометра значительно превышает сроки любого исследовательского проекта.

Система Empyrean — это универсальная платформа для рентгеновских исследований. В отличие от других систем платформа Empyrean разработана с учетом современных условий и отвечает требованиям будущего.

Запрос предложения Связаться с отделом продаж

	Empyrean Интеллектуальный дифрактометр
	Подробнее
Измерение	Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis
Конфигурация гониометра	Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц	1 - 100 nm
Технология	X-ray Diffraction (XRD)
	Empyrean Nano Edition Универсальная платформа для рентгеновского рассеяния
	Подробнее
Измерение	Абсолютная молекулярная масса, Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав), Площадь поверхности, Агрегация белков, Protein stability, Идентификация фаз, Phase quantification, Pore size distribution
Конфигурация гониометра	Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц	1 - 100 nm
Технология	X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering
	Empyrean Alpha 1 Непревзойденная точность данных с помощью лабораторной системы рентгеновской дифракции (XRD)
	Подробнее
Измерение	Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, 3D structure / imaging
Конфигурация гониометра	Vertical goniometer, Θ-Θ
Технология	X-ray Diffraction (XRD)

	Empyrean Интеллектуальный дифрактометр	Empyrean Nano Edition Универсальная платформа для рентгеновского рассеяния	Empyrean Alpha 1 Непревзойденная точность данных с помощью лабораторной системы рентгеновской дифракции (XRD)
	Подробнее	Подробнее	Подробнее
Измерение	Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, Contaminant detection and analysis, Residual stress, Epitaxy analysis, Interface roughness, Анализ текстур, 3D structure / imaging, Reciprocal space analysis	Абсолютная молекулярная масса, Форма частиц, Размер частиц (гранулометрический состав), Площадь поверхности, Агрегация белков, Protein stability, Идентификация фаз, Phase quantification, Pore size distribution	Crystal structure determination, Идентификация фаз, Phase quantification, 3D structure / imaging
Конфигурация гониометра	Vertical goniometer, Θ-Θ	Vertical goniometer, Θ-Θ	Vertical goniometer, Θ-Θ
Диапазон размеров частиц	1 - 100 nm	1 - 100 nm
Технология	X-ray Diffraction (XRD)	X-ray Diffraction (XRD), X-ray Scattering	X-ray Diffraction (XRD)