Epsilon 4
Быстрый и точный элементный анализ рядом с производственной линией
Epsilon 4, созданный на основе успешных и признанных спектрометров XRF серии Epsilon 3, представляет собой многофункциональный настольный анализатор XRF для любой отрасли промышленности, где требуется элементный анализ от фтора (F) до америция (Am), в различных областях: от исследований и разработок до управления технологическими процессами. Благодаря сочетанию новейших технологий возбуждения и обнаружения, продуманного программного обеспечения и компактного дизайна аналитическая производительность приборов Epsilon 4 приближается к производительности более мощных напольных спектрометров XRF.
Отраслевые версии
Epsilon 4 для горнодобывающей промышленности
Элементный анализ непосредственно в шахте или рядом с производственной линией.Epsilon 4 для масел и топлива
Обеспечивайте соответствие стандартам EPA TIER 3 и ISO 13032 для анализа содержания серы в топливе и маслах.Epsilon 4 для смазочных масел
Обеспечивайте соответствие стандарту ASTM D7751-15 для анализа добавок в смазочных маслах.Epsilon 4 для фармацевтической промышленности и производства косметики
Обеспечивайте соответствие стандартам ICH Q3D, USP <232>, <233> и <735> для анализа следовых элементов примесей во вспомогательных веществах и активных фармацевтических ингредиентах (API).Epsilon 4 для производства пищевых продуктов и защиты окружающей среды
Обеспечивайте соответствие стандарту EPA IO-3.3 для анализа воздушного фильтра и стандартам ISO 18227, ISO 15309 и ASTM C1255 для анализа почв.Epsilon 4 для строительных материалов
Обеспечивайте соответствие стандарту ASTM C114-15 и снижайте время получения обратной связи, размещая прибор Epsilon 4 рядом с производственной линиейEpsilon 4 для полимеров, пластмасс и красок
Точный анализ добавок и остатков катализаторов (ADPOL), токсичных элементов (TOXEL) и обеспечение соответствия RoHS (RoHS)Обзор
Epsilon 4 для повсеместного использования
Ценность не только в выполнении анализа
Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр для элементного анализа в диапазоне от углерода (C) до америция (Am) и в концентрациях от долей частей/млн до 100% по массе.
Используйте Omnian для безэталонного анализа, FingerPrint для испытаний материалов, когда требуется высокая скорость анализа, или используйте Stratos для быстрого, простого и неразрушающего анализа покрытий, поверхностных слоев и многослойных структур. Также можно использовать усиленную защиту данных, которая поддерживает соответствие таким нормативам, как FDA 21 CFR Часть 11, либо применять Oil-Trace для количественного анализа топливо-биотопливных примесей в свежих и отработанных смазочных маслах.
Способен работать с любыми образцами
Epsilon 4 — мощная и надежная альтернатива традиционным системам для широкого спектра отраслей и областей применения, даже когда анализ легких элементов имеет первостепенное значение, включая: производство цемента, горную промышленность, обогащение минералов, производство чугуна, стали и цветных металлов, скрининг и количественный анализ по RoHS, добычу нефти и получение нефтепродуктов, производство полимеров и смежные отрасли, производство стекла, криминалистику,
фармацевтическую промышленность, производство медицинских препаратов, защиту окружающей среды, производство пищевых продуктов и косметики.
Функции
Гибкая конфигурация
Новейшие достижения
Скорость и чувствительность
Уникальная электроника детектора обеспечивает линейную скорость счета свыше 1 500 000 имп/с (при 50% мертвого времени) и не зависимое от скорости счета разрешение, обычно превышающее 135 эВ, для лучшего разделения аналитических линий в спектре. Это позволяет спектрометру Epsilon 4 работать на полной мощности и, следовательно, достигать гораздо более высокой скорости обработки образцов по сравнению с традиционными настольными приборами EDXRF.
Снижение потребления гелия
Характеристики
| Загрузка-выгрузка образца | Рентгеновская трубка | Детектор | Программное обеспечение |
|---|---|---|---|
| Съемное устройство смены образцов на 10 позиций | Металлокерамическое боковое окно для максимальной стабильности | Дрейфовый кремниевый детектор (SDD) с высоким разрешением, обычно 135 эВ при Mn-Kα | Элементный скрининг с помощью решения безэталонного анализа Omnian |
| Спектрометр вмещает образцы диаметром до 52 мм (2 дюйма) | Тонкое бериллиевое окно толщиной 50 микрометров для обеспечения высокой чувствительности к легким элементам (Na, Mg, Al, Si) | Макс. скорость счета 1 500 000 имп/с при 50% мертвого времени | Анализ ПРОЙДЕН/НЕ ПРОЙДЕН с использованием решения FingerPrint |
| В комплект входит устройство вращения для улучшения точности анализа воздушного фильтра | Рентгеновская трубка с анодом из Ag для оптимальной производительности при анализе P, S и Cl | Тонкое входное окно детектора для обеспечения высокой чувствительности | Усиленная защита данных для регулируемых сред |
| Режим большого образца для анализа более крупных образцов высотой до 10 см | Stratos для многослойных образцов | ||
| Одна гибкая калибровка для продуктов износа металлов в свежих и отработанных смазочных маслах с использованием Oil-Trace |
Дополнительное оборудование
Стандарты (справочные материалы)
ADPOL
Точный элементный анализ функциональных присадок для полимеров с помощью рентгеновской флуоресценцииWROXI
Точный анализ оксидов минералов в широком диапазоне концентрацийLAS
Анализ низколегированной стали с помощью рентгенофлуоресцентных спектрометров Malvern PanalyticalRoHS
Точный элементный анализ материалов, ограниченных стандартами RoHSTOXEL
Точный XRF-анализ токсичных элементов в полимерах и пластмассахCRM
Claisse – решение для любых задач в любой точке мира!CEMOXI
Точный анализ содержания оксидов в цементе с помощью XRFПрограммное обеспечение
Программное обеспечение Epsilon
Программное обеспечение Epsilon — программная платформа для XRF-анализа, которая используется в настольных EDXRF-системах PANalytical серий Epsilon 1 и Epsilon 4.
Stratos
Программное обеспечение предоставляет быстрые, простые и неразрушающие средства для анализа покрытий, поверхностных слоев и многослойных структур.Omnian
Программное обеспечение Omnian позволяет получать наилучшие результаты анализа, если отсутствуют специальные методы или сертифицированные образцы.
Oil-Trace
Oil-Trace — это программный пакет, содержащий комплект стандартов, которые позволяют выполнять точный и достоверный элементный анализ жидкостей с помощью WDXRF и EDXRF.FingerPrint
Программный модуль FingerPrint в сочетании с системой Epsilon EDXRF идеально подходит для испытаний материалов, когда требуется высокая скорость анализа, но фактический состав не представляет интереса.
Усиленная защита данных
Защита ваших данных и соблюдение нормативных требований.Поддержка
Обслуживание
Решения для максимального увеличения отдачи от ваших инвестиций
Malvern Panalytical предлагает широкий спектр услуг, позволяющих поддерживать ваши приборы в превосходном состоянии и обеспечивать их максимальную эффективность. Наши знания и поддержка обеспечивают оптимальное функционирование вашего прибора.
Поддержка
Обслуживание в течение всего срока службы
- Телефонная и дистанционная поддержка
- Профилактическое обслуживание и проверки
- Гибкие соглашения об обслуживании клиентов
- Сертификаты характеристик
- Обновления оборудования и программного обеспечения
- Местная и международная поддержка
Обучение и методическая поддержка
Повышение эффективности ваших процессов
- Разработка/оптимизация подготовки образцов
- Аналитические методологии
- Решения под ключ для XRD
- Операции с использованием пакетов IQ/OQ/PQ, обеспечение качества (GLP, ISO17025) или циклические/межлабораторные исследования
- Автоматизация лабораторных процессов
- Консультационные услуги
Обучение и образование
- Обучение на месте или в наших центрах компетенции
- Широкий спектр базовых и продвинутых курсов по продуктам, приложениям и программному обеспечению
Аналитические услуги и калибровочные материалы
- Экспертные услуги (XRF)
- Анализ оксидов и следов
- Индивидуальные калибровочные материалы