Элементные инновации

Непрерывное развитие, улучшение качества обслуживания клиентов 

Благодаря встроенной в платформу Zetium технологии SumXcore, включающей методы WDXRF, EDXRF и XRD, на первый план выходят научно обоснованные инновации, обеспечивающие максимальную гибкость, производительность и универсальность — на пути к глобальным изменениям в области рентгенофлуоресцентной спектрометрии.

Элементные инновации

Интеллектуальные решения для элементного анализа

Для успешного применения усовершенствованного аналитического оборудования необходимы расширенная версия аналитического программного обеспечения и специальные знания
Усовершенствованные функции нашего известного программного обеспечения SuperQ предоставляют доступ к новым комбинациям технологий и аналитическим возможностям. Интеллектуальное решение Virtual Analyst облегчает работу пользователя во время настройки и эксплуатации системы.
Интеллектуальные решения для элементного анализа

Поддержка при проведении элементного анализа

Доступная и надежная поддержка независимо от местоположения
 
От обучения до проведения лабораторного анализа, от обслуживания до эксплуатации — пользователь получает всестороннюю поддержку во всех спектрах деятельности. Благодаря всемирной сети опытных инженеров в сочетании с крупнейшим в отрасли составом методистов компания Malvern Panalytical всегда готова помочь вам в решении аналитических задач. 
Поддержка при проведении элементного анализа

Технология элементного анализа

60 лет опыта и ценных достижений — идеальная отправная точка
Zetium является следующим примером успешного применения спектрометров WDXRF, включая Axios, MagiX и PW2400. Признанные технологические достижения благодаря дальнейшему развитию и усовершенствованию стали основой платформы Zetium.
Технология элементного анализа

Расширенные возможности анализа

  • Повышение мощности от 1 до 2,4, 3 или 4 кВт для большей чувствительности
  • Ассортимент материалов анода рентгеновских трубок (Rh, Cr, Mo и Au) для конкретных вариантов применения
  • Дуплексный детектор повышает чувствительность и расширяет динамический диапазон для анализа металлов
  • Сцинтилляционный детектор HiPer увеличивает динамический диапазон для тяжелых элементов (линейный до 3,5 Мимп/с) и идеально подходит для высокоточного анализа Nb и Mo в сталях
  • Последовательный анализ свободной извести и анализ с применением рентгеновской флуоресценции с ядром THETA

Удобный пользовательский интерфейс

  • Простое, интуитивно понятное программное обеспечение с использованием Virtual Analyst
  • Полный набор модулей настройки программы и программных решений
  • Ведущий в отрасли анализ с применением рентгеновской флуоресценции при использовании Omnian - анализ неизвестных элементов или анализ при отсутствии стандартов
  • Многоэлементный анализ поверхностей с картографированием
  • Программируемые маски коллиматора для образцов с размерами от 6 до 37 мм

Максимальная скорость обработки образца

  • Технология SumXcore - время измерения сокращено на 50% с помощью ядра ED
  • Повышение мощности с 1 до 2,4, 3 или 4 кВт для ускорения анализа
  • Каналы Hi-Per для одновременного измерения легких элементов
  • Непрерывная и непосредственная загрузка образца значительно снижает расходы прибора
  • Высокопроизводительная платформа устройства смены образцов (до 209 позиций) для обеспечения высокой пропускной способности
  • Дополнительный считыватель штрихкодов в устройстве для смены образцов обеспечивает быструю и безошибочную загрузку образцов и ввод данных

Прочность

  • Устройство для удаления пыли снижает степень загрязнения и обеспечивает максимальное время безотказной работы прибора
  • Покрытие CHI-BLUE для окна рентгеновской трубки повышает ее долговечность и устойчивость к коррозии
  • Идентификация типа образца (твердые вещества и жидкости)
  • Считыватель штрихкода для безошибочного ввода образца

 Низкая стоимость владения

  • Малогабаритная компактная конструкция 
  • Конструкция с воздушным шлюзом небольшого объема обеспечивает быстрое помещение образцов в вакуум и низкий расход гелия для анализа жидких образцов
  • Удобная конструкция модуля позволяет быстрее выполнять обслуживание прибора и сокращает простой
  • Специальный охладитель удаляет тепло из помещения лаборатории, позволяя избежать перегрузки системы кондиционирования воздуха
  • Комплексные решения для экономии затрат

Индивидуальные решения для конкретных отраслей

В комплект поставки промышленных версий рентгенофлуоресцентного спектрометра Zetium входят специализированные экспертные шаблоны, а также аппаратные и программные конфигурации для конкретных отраслей промышленности. Эти промышленные версии, предназначенные для быстрого ввода в эксплуатацию и калибровки, оснащены высококачественными запатентованными модулями для настройки программы измерений, которые включают стандартные настройки и инструкции по подготовке образцов. Кроме того, в комплект входят индивидуальные шаблоны программы измерений для типовых отраслевых задач и обеспечения соответствия международным требованиям. Эти системы находят применение в таких отраслях, как цементная, горнодобывающая, металлургическая, нефтехимическая промышленность, производство полимеров и пластиков. Конфигурация версии Ultimate отвечает самым строгим требованиям независимо от отрасли.
Zetium, версия Ultimate
Представляет собой самую передовую конфигурацию семейства Zetium и обеспечивает непревзойденные аналитические характеристики, независимо от варианта применения.
Zetium, версия Cement (для цементной промышленности)
Обеспечивает выполнение элементного анализа и анализа свободной извести для точного контроля производственного процесса.
Zetium, версия Metals (для металлов)
Включает предварительную настройку соответствующих методологических решений для конкретных аналитических задач в металлургической промышленности.
Zetium, версия Petro (для нефтяной промышленности)
Предварительно откалибрована в соответствии с нормативными требованиями нефтехимической промышленности.
Zetium, версия Polymers (для полимеров)
Предназначена для обеспечения однородности продукции посредством надежного элементного анализа образцов в процессе производства.
Zetium, версия Minerals (для минералов)
Zetium, версия Minerals предназначена для анализа материалов на всех этапах процесса добычи, от руд до хвостов.

Стандарты (справочные материалы)

Программное обеспечение

Super Q

Программное обеспечение SuperQ отличается простотой применения, что делает спектрометры Zetium и CubiX доступными для использования администраторами и операторами.

Omnian

Программное обеспечение Omnian позволяет получать наилучшие результаты анализа, если отсутствуют специальные методы или сертифицированные образцы.

Усиленная защита данных
Защита ваших данных и соблюдение нормативных требований.
Oil-Trace
Oil-Trace — это программный пакет, содержащий комплект стандартов, которые позволяют выполнять точный и достоверный элементный анализ жидкостей с помощью WDXRF и EDXRF.
Pro-Trace

Pro-Trace является идеальным средством расчета чистой интенсивности при анализе примесных элементов и точной коррекции матрицы, в случаях когда общая матрица неизвестна.

Stratos
Программное обеспечение предоставляет быстрые, простые и неразрушающие средства для анализа покрытий, поверхностных слоев и многослойных структур.

Пакеты усовершенствования системы

Модульная конструкция платформы Zetium позволяет использовать настраиваемые конфигурации, которые соответствуют даже самым строгим требованиям.
 
  •     Улучшения характеристик, ориентированные на конкретные задачи
  •     Высокая скорость обработки образца — более быстрая смена образца и минимизация косвенных задач
  •     Защита от пыльных образцов и разлива жидкости
  •     Безошибочное введение образца с помощью считывателя штрихкода
  •     Обработка различных типов образцов, включая анализ небольших областей
Пакеты усовершенствования системы

SumXcore

Ядро ED
Платформа Zetium оснащена технологией SumXcore, включающей WDXRF, EDXRF и XRD. Эта уникальная комбинация возможностей отличает ее от других по показателям мощности, скорости и универсальности решения задач.
 
Объединенные преимущества WD/ED XRF
Максимальная универсальность при решении задачи и улучшенные рабочие характеристики благодаря одновременным измерениям SumXcore
Преимущества, основанные на значительном сокращении времени измерений до 50% или повышении точности
Дрейфовый кремниевый детектор с высоким разрешением и переменным затуханием сигнала для обеспечения оптимальной универсальности характеристик
Элементный анализ от Na до Am, в концентрациях от ppm до 100%
Отслеживайте неожиданные элементы, которые могут повлиять на анализ элементов, без увеличения времени измерения
Улучшите программу по обеспечению/контролю качества (QA/QC) и достоверность данных благодаря наличию двух независимых результатов для каждого измерения
SumXcore

SuperQ 6 и Virtual Analyst

В Virtual Analyst поступает информация из различных источников, таких как стандартизованные составы, фактические измерения и задания пользователей. Эта информация используется для расчета отклика системы, ее настройки и реализации метода.
 
  • Доступ к возможностям платформы Zetium
  • Простота и удобство рабочего процесса, направленного на конкретные задачи
  • Повышение точности данных благодаря усовершенствованию коррекции матрицы – от металлов до полимеров 
  • Virtual Analyst – реализация многолетнего опыта специалистов.
SuperQ 6 и Virtual Analyst

Анализ небольших областей с помощью картографирования поверхности

Анализ небольших областей с помощью картографирования распределения элементов — это идеальный инструмент для исследования материалов, а также поиска и устранения неполадок в процессе производства. Теперь этот метод можно использовать не только в научно-исследовательских учреждениях, но и на других объектах, что позволяет решать множество задач.
 
  • Идеально подходит для исследования материалов и устранения неполадок в процессе производства
  • Практичное время анализа
  • Оптический путь с прямым соединением для обеспечения высокой чувствительности
  • Использует ядро ED для быстрого, одновременного многоэлементного анализа для одной области
  • Размер пятна 500 мкм (FWHM), размер шага 100 мкм
  • Количественный, качественный и стандартизированный анализ Omnian
  • Простая подготовка образца
Анализ небольших областей с помощью картографирования поверхности