Рентгеновский анализ

Методы рентгеновского анализа с использованием рентгенофлуоресцентного и рентгенодифракционного оборудования

Во многих производственных или исследовательских лабораториях рентгеновские лучи используют для характеризации материалов и образцов. Диапазон длины волны рентгеновского излучения (от 0,01 до 10 нм) делает их идеальным инструментом для анализа структур и элементов на атомном уровне. Существует несколько основных методов использования рентгеновских лучей для характеризации образца: 

Анализ XRD 

Рентгеновская дифракция (XRD) и рассеяние рентгеновского излучения могут использоваться, например, для анализа кристаллической структуры образцов (рентгеновская кристаллография) или для определения и количественного анализа кристаллических фаз в образце (рентгеновская порошковая дифрактометрия / XRPD). Рентгенодифракционное оборудование также может быть дополнено инструментами и принадлежностями для визуализации внутренней структуры объекта или использовать технологию рассеяния рентгеновского излучения для анализа распределения размеров наночастиц.    

Анализ XRF 

Рентгеновская флуоресценция (XRF) — это быстрый и широко используемый метод неразрушающего контроля для определения элементного состава материала, требующий минимальной подготовки образцов. Рентгенофлуоресцентные анализаторы можно использовать в различных областях, начиная от проверки поступающих материалов на наличие токсичных элементов и заканчивая точным анализом в высокопроизводительных, критически важных производственных средах. Компания Malvern Panalytical предлагает широкий ассортимент рентгенофлуоресцентных анализаторов для решения ваших задач

XRD и XRF — что мне больше подходит?

XRD и XRF являются взаимодополняющими методами, которые обладают определенными сходствами, так как оба метода используют источник рентгеновского излучения и детектор рентгеновского излучения. Однако эти два метода дают совершенно разные данные. 

XRD предоставляет информацию о кристаллических фазах, присутствующих в образце, и может различать соединения, например различные степени окисления (Fe2O3/Fe3O4), или различные полиморфы (гематит и маггемит, оба являются оксидом железа Fe2O3). 

XRF предоставляет информацию о химическом (элементном) составе образца, то есть о том, какие элементы (Fe, O) присутствуют и в каком количестве. Одним из основных преимуществ XRF является то, что этот метод позволяет определить содержание химического элемента до 100 ppb (частей на миллиард). Подготовка образцов для XRF также отличается быстротой, простотой и безопасностью по сравнению с альтернативными методами. 

Решения Malvern Panalytical для рентгеновского анализа

Компания Malvern Panalytical является ведущим мировым поставщиком рентгеновского аналитического оборудования с многолетним опытом. Мы предлагаем широкий спектр решений от простых в использовании настольных систем до высокопроизводительных комплексных напольных систем для XRF и XRD. Эти методы дополняют друг друга, и во многих системах производственного контроля для обеспечения оптимального качества используются оба типа оборудования.