環境與氣候科學

了解我们的分析解决方案如何能够促进您对大气、土地和水的研究

想借助我们的分析解决方案增进您对环境与气候科学的了解吗? 我们提供了大量有用的文章,介绍了与我们的大气、土地和水研究解决方案高度相关的应用,无论您是学生、研究人员还是教授,均可从中获益。

环境与气候科学研究中所研究的材料和所使用的分析方法通常与农业与食品科学以及地质科学、矿物与采矿领域的应用重叠,因此您也可以访问这些页面以了解有用的信息。 有关方法缩写的解释,请参见此页面的底部。 尽情探索吧!

大气

通过气象学、污染和气候变化领域的研究,我们一直在研究大气。 以下几种方法让我们能在大气科学领域取得新发现。 大气研究的一个重要部分还包括针对不同大气状况进行校准。 请查看下面的应用例子以了解更多信息!

大气

方法

样品/主题

应用说明标题(链接)

云辐射特性 - 光谱校准

UV/Vis/NIR/ SWIR

云和地表辐射特性

基于 CERES 直升机在 ARM 南部大平原站点获取的数据得出的表面双向反射函数

夜间灯 - 光谱校准

UV/Vis/NIR/ SWIR

使用 Nightsat 传感器的夜间灯

夜间灯的光谱特征

颗粒、灰 - 自动成像

成像技术

火山灰

使用 Morphologi G3 评估 Eyjafjallajökulll 火山喷发产生的火山灰的磨蚀性

颗粒、污染 - 自动成像

成像技术

1 ml 2000 颗粒/ml 计数标准 (Thermo Scientific Ezy-cal lot 37088) 

使用 Morphologi G3 自动图像分析系统对滤膜进行颗粒表征和计数

颗粒、污染 - 元素分析

XRF

EPA 方法 IO-3.3 适用于 55 种元素

根据美国 EPA 方法 IO-3.3 对空气滤清器进行元素分析

颗粒、污染 - 元素分析

XRF

空气中的 As、Cd、Cr、Cu、Mn、Ni、Pb、Sb 和 Zn

环境空气监测:分析空气滤清器上的 As、Cd、Cr、Cu、Mn、Ni、Pb、Sb 和 Zn 微粒

太阳光谱能量 - 光谱校准

UV/Vis/NIR/ SWIR

太阳光谱能量

测量太阳光谱能量应用说明

土地

随着对土地的需求不断增加,研究土地利用、土地侵蚀和土壤特性,以及绘制生物和植被变化图变得日益重要。 要深入了解矿床研究,请查看地质科学、矿物与采矿领域的相关信息。 土地研究人员可以使用分析仪器校准和验证航空卫星图像,并进行实地和实验室实验。 请看下面的内容,详细了解我们的土地研究解决方案!

土地

方法

样品/主题

应用说明标题(链接)

用途变化和入侵物种 - 航空传感器的校准

UV/Vis/NIR/ SWIR

土地用途变化和入侵物种

用于长期生态遥感项目的成像光谱仪的辐射度校准概念

从太空看地球 - 光谱校准

UV/Vis/NIR/ SWIR

地球表面

用于校准卫星图像的非成像航空光谱

从空中看地球 - 光谱校准

UV/Vis/NIR/ SWIR

加利福尼亚州伊万帕海滩和内华达州米德湖的校准或辐射光谱

MODIS/ASTER 航空模拟器 (MASTER) - 用于地球科学研究的新工具

土壤 - 矿物质和总碳量的实验室测量

UV/Vis/NIR/ SWIR

土壤碳、土壤矿物

使用 NIR 测量土壤矿物质和总碳量

土壤 - 有机碳含量

UV/Vis/NIR/ SWIR

土壤有机碳 (SOC)

使用 ASD NIR 光谱仪分析土壤样品中的土壤有机碳

植被 - 遥感方法综述

UV/Vis/NIR/ SWIR

陆空测绘技术综述文章

缩放光谱方法 - 从叶片反照率到绘制生态系统图

从喜马拉雅山上的积雪到我们的沿海水域,我们对水这一宝贵的生命自然资源有着浓厚的兴趣。 我们研究人类用水的处理方法,以及水如何遭到污染和水对我们环境的影响。 请查看下面的应用说明,了解有关我们的水研究解决方案的更多信息!

方法

样品

应用说明标题(链接)

饮用水 - 颗粒含量

NTA

过滤前后的饮用水

监测水处理的微滤过程

防火、水雾 - 颗粒粒度

LD

水、雾系统/表面活性剂

使用马尔文Spraytec 表征灭火系统

废水处理 - 混凝

ELS

废水、混凝剂

实时数据支持现场混凝剂加料 - 文章

水质 - 叶绿素、磷和浊度

UV/Vis/NIR/ SWIR

水质参数,如叶绿素-a、浊度和总磷 

结合高光谱遥感与视场光谱仪监测内陆水质参数

水处理 - 澄清控制

ELS

Severn-Trent 水处理

迈向水处理的自动化澄清控制:在线 Zeta 电位测量的工业优势 - 白皮书

水处理 - 絮凝

ELS

膨润土(铝硅酸盐粘土颗粒/水模型系统 + 阳离子絮凝剂(明矾))

使用 Zeta 电位对水处理进行优化

水处理 - 纳米颗粒 

NTA

研究纳米颗粒的毒性和环境影响

使用纳米颗粒跟踪分析法评估废水中的纳米颗粒毒性 - 白皮书

水处理 - 工艺控制

ELS

废水、处理水

Zeta 电位在水处理工艺控制方面的作用

水处理 - 去除毒素

ELS

RNIP(活性铁纳米颗粒)用于去除有毒氯化化合物(即三氯乙烯 (TCE)、四氯乙烯 (PCE)、氯仿、四氯化碳和 1,1,2,2-四氯乙烷)

水修复:活性铁纳米颗粒

水处理 - 浊度模拟

ELS

用于模拟浊度的 Intralipid 样品

Zetasizer Nano 中 Zeta 电位测量的浓度限值

名詞說明

我們的產品與技術在產品頁面提供相關說明。您可在下方找到我們儀器量測屬性的快速參考連結,以及量測名稱及其縮寫。進入以下連結來深入瞭解! 

英文縮寫

方法名稱

儀器

測量的特性

DLS (DLS)

動態光散射技術 (DLS)

Zetasizer

分子大小、流體力學半徑 RH、粒子大小、大小分佈、穩定性、濃度、凝聚度

ELS

電泳光散射技術

Zetasizer

Zeta 界面電位、粒子電荷、懸浮穩定性、蛋白質活動力

ITC

等溫滴定熱分析法

MicroCal  ITC

結合親和力、溶液分子反應熱力學

DSC

差示掃描量熱法

Microcal DSC

大分子變性 (重新摺疊)、大分子穩定性

GCI

光柵耦合干涉法 (GCI)

Creoptix WAVEsystem

使用無標記法進行即時結合動力學與結合親和力分析

IMG

自動影像分析

Morphologi 4

粒子成像、自動形狀與大小量測

MDRS

形貌導向拉曼光譜技術

Morphologi 4-ID

粒子成像、自動形狀與大小量測、化學識別與污染物偵測

LD

雷射繞射

Mastersizer

Spraytec

Insitec

Parsum

適用分析的材料

NTA:

奈米粒子追蹤分析

NanoSight

粒子大小、大小分佈及濃度

SEC  或   GPC

尺寸篩選層析法 (SEC)

凝膠滲透層析法

OMNISEC

分子大小、分子量、減數狀態、聚合物或蛋白質大小及分子結構

SPE

經由熔融法進行樣本製備

Le Neo

LeDoser

Eagon 2

The OxAdvanced

M4

rFusion

適合 XRF 熔融樣本製備、適合 ICP 過氧化物溶液製備、適合熔融樣品通率加權

UV/Vis/NIR/ SWIR

紫外光 / 可見光 / 近紅外線 / 短波紅外線光譜儀

LabSpec

FieldSpec

TerraSpec

QualitySpec

材料識別與分析、濕度、礦物質、碳含量。空中及衛星光譜技術的地面實況。

PFTNA

脈衝快速熱中子活化

CNA

即時元素分析

XRD-C

X 光繞射 (晶體學)

Aeris

Empyrean

分子結晶結構精算、

結晶相識別與定量、結晶與非結晶比例、結晶體尺寸分析

XRD-M

X 光繞射 (微結構)

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

殘餘應力、織構 (Texture)

XRD-CT

由斷層掃描所產生的 X 光吸收成像

Empyrean

固體、孔隙和密度 3D 成像

SAXS

小角度 X 光散射 SAXS

Empyrean

奈米顆粒、尺寸、形狀與結構

GISAXS

低掠角小角度 X 光散射

Empyrean

奈米結構薄膜與表面

HR-XRD

高解析度 X 光繞射

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

薄膜與多磊晶層、組成、應力、厚度、品質

XRR

X 光反射法

Empyrean

X’Pert3 MRD(XL)

薄膜與表面、薄膜厚度、表面與介面平整度

XRF

X 光螢光光譜儀 (XRF)

Epsilon

Zetium

Axios FAST

2830 ZT

元素成分、元素濃度、微量元素、污染物偵測