XRF 分析儀

適用於元素成分分析的專業 XRF 光譜儀

X 光螢光 (XRF) 光譜儀是功能強大的分析儀器,用途為揭示各種材料的元素成分。這些多用途裝置在科學研究、品質控管和工業應用中佔有重要地位

XRF 分析儀具有優異的元素分析能力。藉由測量放射 X 光的能量與強度,該儀器可識別出存在的元素及其濃度。元素成分資訊對於地質學、冶金業、考古學和環境科學等領域至關重要,此資訊可為這些領域帶來極大助益。

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體積小但功能強大的攜帶式 XRF 分析儀
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先進半導體薄膜的精密量測解決方案
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XRF 分析儀可執行哪些測量?

XRF 分析儀是一款多用途儀器,以其精確、非破壞性的元素分析能力而聞名。這些分析儀可提供多種測量和深入見解,對許多產業領域皆能帶來極大助益。

元素定量

XRF 儀器的主要功能是元素定量。藉由讓樣品暴露於高能量 X 光下,XRF 分析可精準測量樣品內的元素濃度。 

此定量功能可於測量多種元素,從碳和氧等輕元素到鉛和鈾等重金屬皆能因應。研究人員、製造人員和品管專業人員都仰賴 XRF 機器來取得準確的元素資料。

非破壞性分析

XRF 分析的其中一項傑出特性,是它的非破壞性。ICP 等傳統化學分析方法時常需要破壞/溶解樣品,使這些樣品失去後續測試或保存的價值。 

然而,XRF 光譜儀可讓您在不改變或破壞材料的情況下執行檢驗。此特性可在分析珍貴藝術品、歷史文物或無可替代的地質樣品時帶來極大助益。

多元素分析

XRF 分析儀具有優異的多元素分析能力。它們可同時偵測並量化單一樣品中的多元素,提供全面性的成分資訊。 

在處理具有多種元素成分的複雜材料、合金或地質樣品時,此功能所帶來的優勢格外顯著。

材料分析

XRF 分析儀器不受限於特定類型的材料。它們可以分析多種樣品類型,包括:

  • 固體:金屬、合金、聚合物、陶瓷、礦物和地質樣品。
  • 液體:溶液、漿體,甚至油品。
  • 粉末:藥物粉末、粉末金屬等。

多用途的特性讓 XRF 機器可應用於多種產業,包括製造業、製藥乃至地質學和環境科學等領域。

測量元素的範例

XRF 分析儀可測量多種元素,包括但不限於:

  • 鐵、銅、鋁等常見金屬。
  • 金、銀和白金等貴金屬。
  • 鉛、砷和汞等環境汙染物。
  • 釹和銪等稀土元素。

無論您是要分析材料特性、確保產品品質或進行科學研究,XRF 光譜儀對於許多產業都是不可或缺的元素分析工具。

為什麼您應該要選擇我們的 XRF 儀器?

Malvern Panalytical 提供各式各樣的 X 光螢光光譜儀,以及元素和薄膜分析的相關產品。這些 XRF 分析儀適用於多種分析、通量要求和作業環境。光譜儀包括能量分散式桌上型 XRF 系統波長分散式高效能 XRF 系統,以及半導體測量相關產品。

XRF 分析儀可透過專用的軟體選項進行設定,提供特定類型的 X 光螢光光譜分析。它能結合各式應用模組 (應用設定、校準和標準) 或作為樣品製備產品套件的一部分使用,實現完整的分析解決方案。所有 Malvern Panalytical 產品皆受到我們的售後和客戶服務組織之支援。

您可參閱我們的知識中心,深入瞭解我們的光譜儀可支援哪些 XRF 應用。

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Epsilon Xflow

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直接洞悉您的生产过程

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Axios FAST

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高样品处理量

量測類型
薄膜測量
元素分析
汙染物偵測和分析
元素定量
化學鑑定
技術類型
X光螢光 (XRF)
波长色散式 X 射线荧光 (WDXRF)
能量色散式 X 射线荧光 (EDXRF)
元素范围 Be-Am F-Am Na-Am B-Am B-Am
LLD 0.1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100% 0.1 ppm - 100%
分辨率 (Mg-Ka) 35eV 145eV 135eV 35eV 35eV
通量 160per 8h day - 240per 8h day Up to - 160per 8h day on-line up to 25 wafers per hour 240per 8h day - 480per 8h day
Format Compact Floorstanding WDXRF Benchtop EDXRF Realtime Semi Floorstanding WDXRF