Aeris

邁向精巧化

我們高度精確且快速的 XRD 系統Aeris 將讓您驚奇不已。只要不到五分鐘的時間,就能產生精準結果。在過去,如此快速且高品質的數據擷取效能,必須透過體積極其龐大的 XRD 系統才有可能實現。相對於此,Aeris 不僅體積精巧,且功能強大,為同類型產品中首創的設計。 

本系統具備單步驟樣本裝載機制,並且結合使用者存取權限控制以及可離線設計數據收集程式的功能,實用性高,極度靈活,從初階乃至專業使用者皆能有效運用。   

無論您的應用需求重視的是泛用性或特殊專一性,Aeris 都能提供有力支援。  

Om_logo.png   搭配 OmniTrust 使用:Malvern Panalytical 為受管制環境而生的合規性解決方案

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特點與優勢

可因應未來使用需求

Aeris 作為一款現代化的多用途*繞射儀,其模組化設計可輕鬆搭配升級與外加選配件進行使用,且產品及相關配件皆容易取得,讓您能安心應對未來任何需求。 

*可控環境、反射式、穿透式、低掠角、2D 繞射。

可因應未來使用需求

隨插即用的簡便性

即便不是 XRD 專業使用者,也能有效操作 Aeris。其直覺式的介面、預先載入的測量程式和簡便的樣本放置機制讓任何人都能輕鬆上手,並獲得優質的可再現成果。

隨插即用的簡便性

簡便、可再現的樣本裝載

Aeris 精密建造的樣本載台和外部裝載系統讓所有使用者每次使用時都能輕鬆且正確地裝載樣本,不論是粉末或固體,任何樣本類型都能輕鬆操作。 

簡便、可再現的樣本裝載

可因應受管制環境需求

Aeris 具備使用者存取權限管理功能和合規性軟體,可因應所有受管制工作流程之需求 (根據 21 CFR Part 11 規定)。可輕鬆管理多位使用者。

可因應受管制環境需求

快速精確

Aeris 具備經典測角儀和內建電腦,其高性能組件和精密樣本載台最短只需五分鐘即可產生精確的結果。 

快速精確

邁向精巧化

推薦感言

價格實惠、簡單易用、數據品質極佳,是個非常出色的產品!

研究人員 Damian G.

規格

樣本處理
樣本裝載 外部樣本裝載
樣本載台 各式全尺寸樣本載台能因應所有需求
樣本更換 6 樣本全尺寸樣本更換器
自動化 與自動化整合相容
X 光產生
波長 銅或鈷
管材配置 有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用
管材包覆 採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP)* 技術的專利設計。
*CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。
測角儀
配置 垂直測角儀,耦合與去耦合 θ-θ,樣本恆為水平
幾何 Bragg-Brentano,穿透式,低掠角
半徑 145 mm
最大 2θ 範圍 -4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器,並具備完整有效偵測器長度時)
角度定位 直接光學位置感測 (DOPS3),具備恆常定位準確度
掃描速度 最高 2.17°/s
可達到的解析度 在 LaB6 上 (使用 0.01 半徑角索勒狹縫) < 0.04° 2θ
2θ 線性度 < 0.04° 2θ
最小角度移動增量 0.001 度
載台
旋轉式 旋轉器載台選擇
可控環境 加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150)
載台交換 免對準的 PreFIX 載台交換
特殊載台 依要求 (手動、MPSS、原位)
偵測器
偵測器 可在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 偵測器之間選擇
一般
尺寸 (高度 x 寬度 x 深度) 690 mm x 770 mm x 786 mm/ 27 吋 x 30 吋 x 31 吋
灰塵防護 封閉式系統與外部樣本裝載
外部冷卻水供應 不需要
高壓空氣需求 不需要
電源供應需求 100 – 240 V,單相
電腦 內部儀器 PC
操作 直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕
介面 LAN、USB、HDMI

軟體解決方案

Aeris 儀器與測量係透過其內建之數據收集軟體及各項預載測量程式運行。使用者也可以編寫自己的程式。 

若需進行相量化、非晶含量及其他項目之測量,內建的 RoboRiet 軟體可執行自動化分析,產生之數據可即時顯示於螢幕,並且可轉移到結果資料庫。 

測量與分析也可以透過 X’Pert Industry 來自動化。Industry 提供獨特的指令碼編寫功能,可用以針對任何程序控制應用來自訂數據收集與校準線式量化方法。結果報告也可因應 LIMS 系統來進行完整配置。 

或者,您可以使用我們的軟體套件 HighScore PlusStress Plus 來執行您自己的深入分析。 

Omnitrust 可根據受管制環境中的法規遵循與資料完整性規定,處理您的使用者管理與數據稽核需求。

RoboRiet

Rietveld 方法的特殊「僅執行」實作和適用於 XRD 相量化、非晶量化等等的輪廓擬合。 

RoboRiet

Industry

適用於產業環境中例行性 X 光繞射分析的軟體,不論是非受管制或完全受管制的系統,也不論是手動控制或完全自動化的系統,皆能有效因應。

Industry

HighScore Plus

在識別出樣本中的所有相之後,這套全方位軟體可繼續協助您的進行分析,從使用或不使用 Rietveld 方法的量化作業乃至輪廓擬合與模式處理,皆能提供有效支援。

HighScore Plus

Stress Plus

Stress Plus 軟體專門用於多晶塗層中殘餘應力的 X 光繞射 (XRD) 分析。此款軟體同時使用單向和多向技術來執行 sin²ψ 殘餘應力分析。 

Stress Plus

專業領域版本

不論是研究或工業環境中,Aeris 皆能用以輕鬆有效地進行樣本特性分析。但有時候,您的應用需要專門的解決方案,或者,您需要一套已校準到位、隨時可用的桌上型 XRD 系統替代方案。

為了滿足此類需求,我們也提供為各個不同產業量身打造且開箱即可使用的 Aeris 版本。這些產業專用版本隨附有可自訂的專業套件,已針對您的特定分析方法或樣本材料預先進行校準。Aeris 內建的 Roboriet 軟體已預先設定就緒,可用以進行自動化測量與分析。隨時可進行測量! 

由下方參考適合您需求的版本:

Aeris 研究專用機型

提供多用途且精確的材料分析解決方案,滿足您的所有需求。
Aeris 研究專用機型

Aeris 金屬專用機型

用於快速又可靠地分析燒結、直接還原鐵 (Direct Reduced Iron),以及殘留奧斯田鐵 (Retained Austenite)。
Aeris 金屬專用機型

支援

各項服務

為您帶來最大投資效益的解決方案

Malvern Panalytical 提供多項產品服務,以確保您的儀器保持在最佳狀態,發揮一流的性能,我們的應用專家和技術支援服務團隊能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

支援

完整維修

  • 電話與線上支援
  • 設備保養與定期檢查
  • 彈性的客戶維護合約
  • 效能認證證書
  • 軟體和硬體相關升級
  • 台灣當地與全球支援

專業技術

為您的作業流程增加更多價值 

  • 樣品製備方法開發與最佳化
  • 分析法開發 
  • XRD 的整合式解決方案 
  • 透過 IQ/OQ/PQ 操作驗證、品質保證 (GLP,ISO17025) 或循環測試/實驗室測試
  • 諮詢服務

教育訓練

  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程

The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic.

Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann
佔用面積小,但效能不容小覷。

佔用面積小,但效能不容小覷。

快速的高品質 XRD,針對您的需求訂製。可立即進行自動化與整合。採用現代化精巧設計。

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