Aeris 研究專用機型

精準的晶相分析結果

結合了高利用率和高性能,讓您在實驗室的工作進入全新境界 - 提供更好的數據結果和更深入的見解,讓您更有效率地得到答案、改善製程、增進知識,乃至推動科學領域的發展。

讓您有更多時間投入您更有興趣的科學研究

無論您研究的材料為何,快速獲取樣品的晶相成分資訊對您的研究至關重要。只要用 Aeris 研究專用機型進行 X 光繞射實驗量測,再搭配 HighScore 分析軟體就可以立即獲得大量的晶體資訊。支援多元化的量測配置,包括反射式、穿透式以及低掠角薄膜 X 光繞射 (GIXRD) 實驗,讓您即時掌握所有多晶體材料的最佳量測數據。

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產品特色

一「觸」可及

最直覺操作的 X 光繞射儀 


Aeris 是一款容易操作且人性化的桌上型 X 光繞射儀。Aeris 的操作相當直覺,它讓 X 光繞射儀變得簡單到每個人都能輕易上手。使用者介面採用獨特的觸控螢幕,讓您能不費吹灰之力完成整個樣品測試。只要按幾下,就能得到結果:
1. 放上您的樣品
2.選擇量測程式
3.查看結果

一「觸」可及

同級最佳性能

超乎您的預期 


Aeris 是您對粉末樣品進行快速、可靠的相鑑定和 Rietveld 分析的主力。由於採用了在 Malvern Panalytical 先進系統上的優勢技術,Aeris 研究專用機型提供了以往只能在立地型 XRD 才能獲取的數據品質。

同級最佳性能

理想的教學工具

1D、2D  


您可以利用 2D 偵測器的量測結果,以視覺化的方式教導 X 光粉末繞射的基本原理。 

理想的教學工具

快速、靈活,面對未來的任何挑戰

Aeris 相當靈活,能解決各種粉末繞射測量的需求。可以結合自動進樣機械手臂並可相容各種類型的樣品座,也可以搭配BTS 500 桌上型溫控樣品載台進行變溫量測。

快速、靈活,面對未來的任何挑戰

只需要最簡單的基礎設施

不須外接冷却水、不須高壓空氣 - 您唯一需要準備的是一個單相電源插座。
只需要最簡單的基礎設施

配件

偵測器

PIXcel1D

可搭配銅、鈷、鐵、錳、鉻靶進行 0D、1D量測。

PIXcel1D

PIXcel3D

可搭配銅、鈷、鐵、錳、鉻靶進行 0D、1D 及 2D 模式量測。

PIXcel3D

軟體

Highscore

相鑑定的完整功能及更多分析選擇。
Highscore

Highscore Plus

結構精算的理想工具,能提供您更多粉末繞射分析的功能。

Highscore Plus

XRD2DScan

Malvern Panalytical 的軟體套件 XRD2DScan 可以將 2D 繞射數據視覺化,並轉換為不同類型的 1D 掃描結果。

XRD2DScan

環境控制樣品載台

X 光管

X 光管

Malvern Panalytical 提供多樣化 X 光管。
X 光管

客技術支援

產品服務

效益最大化的解決方案

Malvern Panalytical 提供多項產品服務,以確保您的儀器保持在最佳狀態,發揮一流的性能。我們的應用專家和技術支援服務能確保您的儀器在最佳狀態下運作。

客技術支援

完整維修

  • 電話與線上支援
  • 設備保養與定期檢查
  • 彈性的客戶維護合約
  • 效能認證證書
  • 軟體和硬體相關升級
  • 台灣當地與全球支援

專業技術

為您的作業流程增加更多價值 

  • 樣品製備方法開發與最佳化
  • 分析方法 
  • XRD 的整合式解決方案 
  • 透過 IQ/OQ/PQ 操作驗證、品質保證 (GLP,ISO17025) 或循環測試/實驗室測試
  • 諮詢服務

教育訓練

  • 提供現場教育訓練或訓練中心培訓
  • 包含各種產品、應用分析與軟體的基礎課程及進階課程

The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic.

Sacari Sacari Elisban Juani — Universidad Nacional Jorge Basadre Grohmann