概覽
Epsilon Xline 結合了我們先進的能量分散式 XRF (EDXRF) 技術與線上功能。此先進解決方案能應用於捲對捲 (R2R) 塗佈製程，用以進行即時材料監測和製程控制。直接分析功能可用以針對材料成分和裝載持續進行最佳化，有助於將成品不符規格的情況降至最低，並且最大化成本效益。彈性靈活的 Epsilon Xline 可因應各種表面與元素，實現精準的製程控制。
產品特色
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完全線上自動化。Epsilon Xline 適用於各種薄膜和塗佈應用，並且可與既有應用無縫整合，滿足您的連續 R2R 生產需求。
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簡單又安全。不同於手持式或傳統儀器，Epsilon Xline 具備完整 X 光安全性，且易於使用，能提供高度精準的分析資料。
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凝聚多年產業經驗。Epsilon Xline 係 Malvern Panalytical 運用自身在 元素分析 領域 70 多年以來的經驗，與產業合作夥伴合作開發而成，旨在因應當下生產需求，並進一步共同開展產業整體的未來。
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產量最大化。利用無干擾的即時監測功能，直接取得優化營運所需的洞見並進行有效控制，實現具成本競爭力的生產效能。
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最佳材料效率。我們的產業標準解決方案可以消弭不一致的情況、協助避免浪費寶貴材料，並確保產出高品質產品。
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專利且經驗證的準確度。Epsilon Xline 與客戶共同開發測試，採用專利高度校正技術，可穩定執行分析，並提供準確的結果。
為什麼選擇 Epsilon Xline？
- 非破壞性的線上製程控制 - 無需採樣
- 具備多種掃描模式，可因應片狀、連續，以及多通道塗佈製程
- 使用標準通訊協定，輕鬆整合至生產製程
- 能夠測量所有重要元素，包括鉑和鈰
- 能夠以優異的精準度測量薄層
- 可因應各種捲材寬度
- 獨特的專利機械手臂，可將量測頭懸停於生產線上的多種不同方位，實現最佳距離控制
因應燃料電池生產的挑戰
由於鉑催化劑佔燃料電池總成本 20% 以上，因此需透過均勻散佈和一致性疊層來使催化劑塗佈達到最佳化。而快速、精準的製程監測就是最理想的解決方案！Epsilon Xline 可助您輕鬆實現高效率作業控制，讓您可以：
- 將產品不符規格的情況降至最低
- 避免浪費珍貴的鉑
- 生產具成本競爭力的最終產品
製程中的元素分析
X 光螢光光譜技術 (XRF) 是一種非破壞性的元素分析技術，可用以在催化劑薄膜塗佈過程中進行線上監測，無需採樣，也不會產生化學或物理變化。
由此產生的即時線上分析內容可用以快速最佳化許多製程參數和產品特性。
可提供再現性高、準確的測量結果，且維護成本低
Epsilon Xline 以及所有其他 Epsilon 系列儀器所採用的技術係以最先進的激發與偵測技術為基礎研發而成，皆經驗證且相當實用。
精心設計的光程、可因應各式輕元素與重元素的廣泛激發能力，以及快速的高解析度 SDD 偵測器系統，共同締造 Epsilon Xline 優異的效能。這些創新設計讓本產品得以產生再現性高、極度準確的結果，且維護成本低廉。
