X선 형광 분광법 및 XRF 응용 분야
X선 형광은 고체, 액체, 슬러리, 가루 분말을 포함한 다양한 샘플 유형의 화학 조성 확인에 사용되는 분석 기법입니다. XRF는 층 및 코팅의 두께와 조성을 결정하는 데에도 사용됩니다. 베릴륨(Be)에서 우라늄(U)에 이르는 원소를 100 wt%에서 sub-ppm 수준 범위의 농도로 분석할 수 있습니다.
XRF는 광학 방출 분광법(OES), ICP 및 중성자 활성화 분석(감마 분광법)과 관련하여 이와 유사한 원자 방출 방법입니다. 그러한 방법은 샘플에서 에너지가 가해진 원자에 의해 방출되는 '빛'(이 경우 X선)의 파장과 강도를 측정합니다.
XRF에서 x선관으로부터의 1차 X선 빔에 의한 조사는 샘플에 존재하는 원소의 이산 에너지 특성을 갖는 형광 X선의 방출을 유발합니다.
그림, 오른쪽: X선 형광(XRF) 프로세스의 예: 1) 들어오는 광자 2) 특성 광자.
XRF는 광범위한 산업 및 과학 분야에 적용될 수 있는 다목적 분석 기법입니다. 그 적응성과 정밀성 덕분에 재료의 원소 조성을 이해하고 조작하는 데 없어서는 안 될 도구가 되었습니다. 산업에서의 물질 식별 및 품질 관리 지원에서부터 문화 유산 보존 및 과학 연구 발전에 이르기까지 XRF는 원소 세계에 대한 이해를 높이는 데 있어 중추적인 역할을 계속하고 있습니다.
XRF는 품질 및 프로세스 제어에 널리 사용됩니다. 사용자는 샘플 전처리의 제한된 노력으로 정확하고 정밀한 결과를 빠르게 얻을 수 있으며, 처리량이 많은 산업 환경에서 사용하기 위해 즉시 자동화할 수 있습니다. XRF의 정밀성과 비파괴 특성은 다음과 같은 다양한 제조 부문에서 품질 관리를 위한 귀중한 도구입니다.
XRF는 재료 연구 및 개발에서 중추적인 역할을 합니다.
제약 및 의료 분야에서도 XRF는 다양하게 활용되고 있습니다.
![[Abstract polygonal space low poly dark background with connecting dots and lines. Connection structure.] shutterstock_384539449.jpg](https://dam.malvernpanalytical.com/915fb23a-bfbb-4bd8-ae5b-adea00c201c8/shutterstock_384539449_Original%20file.jpg)
시료 준비부터 결과 보고까지, 우리는 귀하의 원소 분석 요구 사항을 충족할 수 있는 이상적인 작업 흐름을 구축하도록 도와드립니다.
Malvern Panalytical 기기는 여러 분야에서 XRF 혁신을 주도해 왔습니다. 2024년에 X 시리즈 휴대용 XRF 분석기와 PowerHouse X 탁상용 시스템을 포함한 SciAps를 인수함으로써 실험실과 현장 환경 모두에서 원소 분석용 최첨단 솔루션을 제공하기 위한 역량을 더욱 강화하고 있습니다. 원소 분석 기기는 에너지 집약적이고 상당한 폐기물을 배출할 수 있지만 SciAps 제품의 휴대용 고성능 기능을 포함하는 Malvern Panalytical의 친환경 혁신에는 이를 바꿀 힘이 있습니다.
또한 기기가 강력하다는 이유만으로 사용하기에 복잡해서는 안 된다고 믿기 때문에 방법(method) 개발 및 데이터 품질 관리를 쉽게 만드는 사용자 친화적인 기능에 투자했습니다. 실험실에서든 현장에서든 XRF 기기를 사용하면 기술 발전, 세심한 유연성 및 지속 가능한 성능이라는 최적의 조합을 활용할 수 있습니다.
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광범위한 물질과 응용 분야의 원소 조성 분석을 위해 다양한 X선 형광 솔루션 및 XRF 분석기를 제공하며 파장 및 에너지 분산 솔루션으로 구성됩니다. X 시리즈와 PowerHouse X를 포함한 SciAps 제품이 추가되면서 이제 기존의 실험실 기반 시스템을 넘어서서 휴대 가능한 고성능 옵션을 제공합니다. 이러한 솔루션은 고급 원소 분석 기능을 현장에 제공하므로, 금속 선별, 채광 탐사 및 규정 준수 검사와 같은 응용 분야에 이상적입니다.
XRF 분석기 가격에 대한 자세한 내용은 XRF 분석기의 비용은 얼마입니까 페이지를 참조하십시오. 또는 아래 표에서 솔루션 포트폴리오를 알아보십시오.
XRF 분석은 높은 정밀도와 정확성을 결합하여 간단하고 신속하게 샘플 전처리를 가능하게 하는 강력한 기술입니다. 높은 처리량의 산업 환경에서 사용하기 위해 쉽게 자동화할 수 있음과 동시에, XRF는 샘플에 대한 질적 및 양적 정보를 모두 제공합니다.
샘플의 X선 형광 스펙트럼의 분리(분산), 식별 및 강도 측정에 사용되는 기술을 통해 파장 분산(WDXRF) 및 에너지 분산(EDXRF) 시스템의 두 가지 주요 유형의 분광기가 개발되었습니다.
이러한 분광계 유형과 그 배경이 되는 기술에 대해 자세히 알아보십시오.
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다양한 XRF 소프트웨어 패키지는 XRF 계측에서 최대한의 가치를 끌어낼 수 있도록 지원합니다. 우수성을 향한 Malvern Panalytical의 노력은 소프트웨어가 지속적으로 발전하고 있음을 의미합니다. XRF 분석 기술의 선두에 서기 위해 연구 개발에 투자하여 고객이 최신 개선 사항과 기능을 이용할 수 있도록 합니다.
뛰어난 성능, 강력한 분석, 무한한 가능성을 갖춘 소형 기기
| 측정 유형 | |
|---|---|
| 박막 계측학 | |
| 원소 분석 | |
| 오염물 검출 및 분석 | |
| 원소 정량화 | |
| 입자의 화학적 성분 | |
| 기술 유형 | |
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
| 원소 범위 | |
| LLD | |
| 해상도(Mg-Ka) | |
| 샘플 처리량 |
구성요소의 탁월함
| 측정 유형 | |
|---|---|
| 박막 계측학 | |
| 원소 분석 | |
| 오염물 검출 및 분석 | |
| 원소 정량화 | |
| 입자의 화학적 성분 | |
| 기술 유형 | |
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
| 원소 범위 | |
| LLD | 0.1 ppm - 100% |
| 해상도(Mg-Ka) | |
| 샘플 처리량 |
신속하고 정확한 앳라인 및 온라인 원소 분석
| 측정 유형 | |
|---|---|
| 박막 계측학 | |
| 원소 분석 | |
| 오염물 검출 및 분석 | |
| 원소 정량화 | |
| 입자의 화학적 성분 | |
| 기술 유형 | |
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
| 원소 범위 | |
| LLD | 1 ppm - 100% |
| 해상도(Mg-Ka) | |
| 샘플 처리량 |
고속 샘플 처리
| 측정 유형 | |
|---|---|
| 박막 계측학 | |
| 원소 분석 | |
| 오염물 검출 및 분석 | |
| 원소 정량화 | |
| 입자의 화학적 성분 | |
| 기술 유형 | |
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
| 원소 범위 | |
| LLD | 0.1 ppm - 100% |
| 해상도(Mg-Ka) | |
| 샘플 처리량 |
고급 반도체 박막 계측학 솔루션
| 측정 유형 | |
|---|---|
| 박막 계측학 | |
| 원소 분석 | |
| 오염물 검출 및 분석 | |
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| 입자의 화학적 성분 | |
| 기술 유형 | |
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |
| 원소 범위 | |
| LLD | 0.1 ppm - 100% |
| 해상도(Mg-Ka) | |
| 샘플 처리량 |
Revontium뛰어난 성능, 강력한 분석, 무한한 가능성을 갖춘 소형 기기 |
Zetium구성요소의 탁월함 |
Epsilon 시리즈신속하고 정확한 앳라인 및 온라인 원소 분석 |
Axios FAST고속 샘플 처리 |
2830 ZT고급 반도체 박막 계측학 솔루션 |
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| 측정 유형 | |||||
| 박막 계측학 | |||||
| 원소 분석 | |||||
| 오염물 검출 및 분석 | |||||
| 원소 정량화 | |||||
| 입자의 화학적 성분 | |||||
| 기술 유형 | |||||
| Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF) | |||||
| Energy Dispersive X-ray Fluorescence (EDXRF) | |||||
| 원소 범위 | |||||
| LLD | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | |
| 해상도(Mg-Ka) | |||||
| 샘플 처리량 | |||||
![[SciAps X series handheld soil analysis_distlib_feature.jpeg] SciAps X series handheld soil analysis_distlib_feature.jpeg](https://dam.malvernpanalytical.com/d183b2dd-4404-4ad9-99c2-b2aa00ff9022/SciAps%20X%20series%20handheld%20soil%20analysis_distlib_feature_Original%20file.jpeg)
![[SciAps PowerHouse X square.png] SciAps PowerHouse X square.png](https://dam.malvernpanalytical.com/dd3bf667-88a6-435f-b66a-b2c100a7ee84/SciAps%20PowerHouse%20X%20square_Original%20file.png)
