2830 ZT 预安装手册
버전 번호: 4
2830 ZT
2830 ZT 파장 분산형 X선 형광(WDXRF) 웨이퍼 분석기는 필름 두께와 구조 측정을 위한 완벽한 기능을 갖추고 있습니다. 반도체 및 데이터 저장 산업을 위해 특수하게 설계된 2830 ZT 웨이퍼 분석기는 최대 300mm에 이르는 다양한 웨이퍼에 대해 층 구조, 두께, 불순물 수준, 표면 균일성을 측정할 수 있습니다.
카달로그 다운로드
사용자 매뉴얼
2830 ZT Pre-installation manual
버전 번호: 4
2830 ZT User Guide
버전 번호: 2
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이벤트 및 교육
모든 이벤트
Malvern Panalytical Future Days: Focus On Semiconductor
- 제품:
- Crystal orientation range, 2830 ZT, X'Pert3 range
- 기술 유형:
- X-ray Fluorescence (XRF), 동적 광산란, Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence (WDXRF), X-ray Diffraction (XRD)
- 산업:
- 반도체/전자제품
서비스 및 지원
서비스
투자 수익 극대화를 위한 솔루션
장비가 최상의 상태로 유지되고 최고 수준으로 작동하게 하도록 Malvern Panalytical은 다양한 서비스를 제공하고 있습니다. 전문적인 기술과 지원 서비스를 통해 장비가 최적의 기능을 할 수 있도록 보장합니다.
지원팀
평생 서비스
- 전화 및 원격 지원
- 예방적 유지보수 및 점검
- 유연한 고객 관리 계약
- 하드웨어 및 소프트웨어 업그레이드
- 지역 및 글로벌 지원
전문 기술
공정에 가치 추가
- 분석 방법론
- 자문 서비스
훈련 및 교육
- 현장 또는 Malvern Panalytical 교육 센터(competence center)에서 교육
- 제품, 응용 프로그램 및 소프트웨어에 대한 다양한 기본 및 고급 과정
분석 서비스 및 교정 물질
- 전문가(XRF) 분석 서비스