蛍光X線分析用ソフトウェア

XRF分析の機能を最大化

マルバーン・パナリティカルの各XRF分析装置は、先進的で高度に専門化されたソフトウェアで利用できます。 これらのソフトウェアパッケージは20年以上の経験に基づいて構築されており、XRF蛍光分析装置を操作する上で重要です。 

内蔵のインテリジェンス機能により分析条件は最適化され、解析機能も容易に理解でき複雑なトレーニングは最小限に抑えられます。

マルバーン・パナリティカルのXRF分析用ソフトウェアパッケージ

Epsilonソフトウェアは、マルバーン・パナリティカルのEpsilon 1~Epsilon 4ベンチトップEDXRFシステムとともに使用するXRF分析ソフトウェアプラットフォームです。 

SuperQは、Zetium波長分散型蛍光X線装置用に設計され、検量線定量法、ファンダメンタル定量法を含む包括的なソフトウェアパッケージです。 

SuperQ Thin Filmは、薄膜構造の試料の膜厚、含有元素の濃度を解析する専用のソフトウェアプラットフォームです。

Epsilonソフトウェア

Epsilonベンチトップシステム用分析EDXRFソフトウェアパッケージ
Epsilonソフトウェア

Oil-Trace

正確な微量元素分析
Oil-Trace

Omnian

あらゆる種類のサンプルのスタンダードレス分析
Omnian

Pro-Trace

信頼性の高い微量元素分析
Pro-Trace

Stratos

皮膜および多層膜の組成と厚さを測定
Stratos

SuperQ

分析用XRFソフトウェアパッケージ
SuperQ