X線結晶方位測定装置 Crystal Orientation 製品

ウェーハとインゴットの迅速かつ正確な方位決定

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当社の結晶方位ソリューションは、ブール、インゴット、パック、ウェーハの用途を念頭に置いて設計されています。当社の製品は、さまざまな環境でシンプルかつ超高速の結晶方位測定を実現します。

完全に自動化されたオンライン分析から迅速な品質チェックまで、マルバーン・パナリティカルのX線結晶方位測定装置が対応します。

X線結晶方位測定装置 DDCOM

コンパクトパッケージで超高速自動結晶方位測定を実現

X線結晶方位測定装置 DDCOM

X線結晶方位測定装置 SDCOM

コンパクトパッケージで超高速かつ柔軟な結晶方位測定を実現

X線結晶方位測定装置 SDCOM

X線結晶方位測定装置 Omega/Theta XRD

超高速結晶方位測定を実現する完全自動試料水平3軸X線回折装置

X線結晶方位測定装置 Omega/Theta XRD

Wafer XRD 200

高速、高精度、完全装備: ウェハ端部制御のためのソリューション

Wafer XRD 200

X線結晶方位測定装置 Wafer XRD 300

統合可能なウェハ方位ソリューション

X線結晶方位測定装置 Wafer XRD 300

XRD - OEM

完全に自動化されたインライン方向とインゴット、ブール、パックの処理

XRD - OEM
X線結晶方位測定装置 DDCOM

X線結晶方位測定装置 DDCOM

コンパクトパッケージで超高速自動結晶方位測定を実現

X線結晶方位測定装置 SDCOM

X線結晶方位測定装置 SDCOM

コンパクトパッケージで超高速かつ柔軟な結晶方位測定を実現

X線結晶方位測定装置 Omega/Theta XRD

X線結晶方位測定装置 Omega/Theta XRD

高精度転写技術による多用途の超高速結晶配向

Wafer XRD 200

Wafer XRD 200

高速、高精度、完全装備: ウェハ端部制御のためのソリューション

X線結晶方位測定装置 Wafer XRD 300

X線結晶方位測定装置 Wafer XRD 300

統合可能なウェハ方位ソリューション

XRD - OEM

XRD - OEM

完全に自動化されたインライン方向とインゴット、ブール、パックの処理

技術 X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD) X-ray Diffraction (XRD)
結晶方位