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Damian G. Research
外部樣本裝載 |
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各式全尺寸樣本載台能因應所有需求 |
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6 樣本全尺寸樣本更換器
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與自動化整合相容
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銅或鈷
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有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用
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採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。
CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。
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垂直測角儀，耦合與去耦合 θ-θ，樣本恆為水平
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Bragg-Brentano，穿透式，低掠角
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145 mm |
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-4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器，並具備完整有效偵測器長度時)
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直接光學位置感測 (DOPS3)，具備恆常定位準確度
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最高 2.17°/s
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在 LaB6 上 (使用 0.01 半徑角索勒狹縫) < 0.04° 2θ
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< 0.04° 2θ |
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0.001 ° |
旋轉器載台選擇
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加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150)
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免對準的 PreFIX 載台交換
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依要求 (手動、MPSS、原位)
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可在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 偵測器之間選擇
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690 x 770 x 786 mm |
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封閉式系統與外部樣本裝載
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不需要
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不需要
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100 – 240 V，單相
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內部儀器 PC
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直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕
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| LAN, USB, HDMI |
一維檢測的終極多功能性和數據清晰度
Medipix 技術作為專用條帶檢測器
第一部為X光繞射儀提供 0D-1D-2D 和 3D 數據的偵測器
Automatic Rietveld refinements for industrial process control
自動化及受規範環境專屬 XRD 分析
晶體學分析等應用的理想工具
Stress analysis in polycrystalline coatings
無人值守，自動運轉的高通量 XRD 分析全新解決方案
不論是研究或工業環境中，Aeris 皆能用以輕鬆有效地進行樣本特性分析。但有時候，您的應用需要專門的解決方案，或者，您需要一套已校準到位、隨時可用的桌上型 XRD 系統替代方案。
為了滿足此類需求，我們也提供為各個不同產業量身打造且開箱即可使用的 Aeris 版本。這些產業專用版本隨附有可自訂的專業套件，已針對您的特定分析方法或樣本材料預先進行校準。Aeris 內建的 Roboriet 軟體已預先設定就緒，可用以進行自動化測量與分析。隨時可進行測量！
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