行業特定的見解從這裡開始 - 了解 Aeris XRD 如何提供重要的結果. 了解更多
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Aeris 作為一款現代化的多用途*繞射儀，其模組化設計可輕鬆搭配升級與外加選配件進行使用，且產品及相關配件皆容易取得，讓您能安心應對未來任何需求。
*可控環境、反射式、穿透式、低掠角、2D 繞射。
即便不是 XRD 專業使用者，也能有效操作 Aeris。
其直覺式的介面、預先載入的測量程式和簡便的樣本放置機制讓任何人都能輕鬆上手，並獲得優質的可再現成果。
Aeris 精密建造的樣本載台和外部裝載系統讓所有使用者每次使用時都能輕鬆且正確地裝載樣本，不論是粉末或固體，任何樣本類型都能輕鬆操作。
Aeris 具備使用者存取權限管理功能和合規性軟體，可因應所有受管制工作流程之需求 (根據 21 CFR Part 11 規定)。
可輕鬆管理多位使用者。
Aeris 具備經典測角儀和內建電腦，其高性能組件和精密樣本載台最短只需五分鐘即可產生精確的結果。
Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!
Damian G. Research
| 樣品加載 | 外部樣本裝載 |
|---|---|
| Sample holders | 各式全尺寸樣本載台能因應所有需求 |
| 樣品更換 | 6 樣本全尺寸樣本更換器
|
| 自動化 | 與自動化整合相容
|
| 波长 | 銅或鈷
|
|---|---|
| Tube setting | 有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用
|
| Tube housing | 採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。
CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直測角儀，耦合與去耦合 θ-θ，樣本恆為水平
|
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano，穿透式，低掠角
|
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器，並具備完整有效偵測器長度時)
|
| Angle positioning | 直接光學位置感測 (DOPS3)，具備恆常定位準確度
|
| Scan Speed | 最高 2.17°/s
|
| 解决方案 | 在 LaB6 上 (使用 0.01 半徑角索勒狹縫) < 0.04° 2θ
|
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 旋轉器載台選擇
|
|---|---|
| Non-ambient | 加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150)
|
| Exchange of stages | 免對準的 PreFIX 載台交換
|
| Special stages | 依要求 (手動、MPSS、原位)
|
| 偵測器 | 可在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 偵測器之間選擇
|
| 尺寸： | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 封閉式系統與外部樣本裝載
|
| External cooling water supply | 不需要
|
| Compressed air supply | 不需要
|
| 电源 | 100 – 240 V，單相
|
| 計算機 | 內部儀器 PC
|
| 操作 | 直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕
|
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
一維檢測的終極多功能性和數據清晰度
Medipix 技術作為專用條帶檢測器
第一部為X光繞射儀提供 0D-1D-2D 和 3D 數據的偵測器
Automatic Rietveld refinements for industrial process control
自動化及受規範環境專屬 XRD 分析
晶體學分析等應用的理想工具
Stress analysis in polycrystalline coatings
無人值守，自動運轉的高通量 XRD 分析全新解決方案
不論是研究或工業環境中，Aeris 皆能用以輕鬆有效地進行樣本特性分析。但有時候，您的應用需要專門的解決方案，或者，您需要一套已校準到位、隨時可用的桌上型 XRD 系統替代方案。
為了滿足此類需求，我們也提供為各個不同產業量身打造且開箱即可使用的 Aeris 版本。這些產業專用版本隨附有可自訂的專業套件，已針對您的特定分析方法或樣本材料預先進行校準。Aeris 內建的 Roboriet 軟體已預先設定就緒，可用以進行自動化測量與分析。隨時可進行測量！
由下方參考適合您需求的版本：
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 6
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 6
版本号: 6
版本号: 6
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 4
版本号: 3
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 2
版本号: 3
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Malvern Panalytical 提供多項產品服務，以確保您的儀器保持在最佳狀態，發揮一流的性能，我們的應用專家和技術支援服務團隊能確保您的儀器在最佳狀態下運作。
完整維修
為您的作業流程增加更多價值
Aeris 作為一款現代化的多用途*繞射儀，其模組化設計可輕鬆搭配升級與外加選配件進行使用，且產品及相關配件皆容易取得，讓您能安心應對未來任何需求。
*可控環境、反射式、穿透式、低掠角、2D 繞射。
即便不是 XRD 專業使用者，也能有效操作 Aeris。
其直覺式的介面、預先載入的測量程式和簡便的樣本放置機制讓任何人都能輕鬆上手，並獲得優質的可再現成果。
Aeris 精密建造的樣本載台和外部裝載系統讓所有使用者每次使用時都能輕鬆且正確地裝載樣本，不論是粉末或固體，任何樣本類型都能輕鬆操作。
Aeris 具備使用者存取權限管理功能和合規性軟體，可因應所有受管制工作流程之需求 (根據 21 CFR Part 11 規定)。
可輕鬆管理多位使用者。
Aeris 具備經典測角儀和內建電腦，其高性能組件和精密樣本載台最短只需五分鐘即可產生精確的結果。
Great value to purchase, fast and easy to use, fantastic data; it's a winner!
Damian G. Research
| 樣品加載 | 外部樣本裝載 |
|---|---|
| Sample holders | 各式全尺寸樣本載台能因應所有需求 |
| 樣品更換 | 6 樣本全尺寸樣本更換器
|
| 自動化 | 與自動化整合相容
|
| 波长 | 銅或鈷
|
|---|---|
| Tube setting | 有 300 W 至 600 W 的 30 kV 或 40 kV 選項可供使用
|
| Tube housing | 採用抗腐蝕入射智慧光束路徑 (CRISP) 技術的專利設計。
CRISP 技術可防止 X 光誘發的離子化空氣造成入射光束路徑腐蝕。專利號 US 8437451 B2。
|
| Base configuration | 垂直測角儀，耦合與去耦合 θ-θ，樣本恆為水平
|
|---|---|
| Geometry | Bragg-Brentano，穿透式，低掠角
|
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4° < 2θ ≤ 142° (使用掃描偵測器，並具備完整有效偵測器長度時)
|
| Angle positioning | 直接光學位置感測 (DOPS3)，具備恆常定位準確度
|
| Scan Speed | 最高 2.17°/s
|
| 解决方案 | 在 LaB6 上 (使用 0.01 半徑角索勒狹縫) < 0.04° 2θ
|
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
| Spinning | 旋轉器載台選擇
|
|---|---|
| Non-ambient | 加熱載台選項 (BTS-500、BTS-150)
|
| Exchange of stages | 免對準的 PreFIX 載台交換
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| Special stages | 依要求 (手動、MPSS、原位)
|
| 偵測器 | 可在 PIXcel1D、PIXcel3D 和 1Der 偵測器之間選擇
|
| 尺寸： | 690 x 770 x 786 mm |
|---|---|
| Dust protection | 封閉式系統與外部樣本裝載
|
| External cooling water supply | 不需要
|
| Compressed air supply | 不需要
|
| 电源 | 100 – 240 V，單相
|
| 計算機 | 內部儀器 PC
|
| 操作 | 直覺式使用者介面與 10.4 吋觸控螢幕
|
| 界面 | LAN, USB, HDMI |
一維檢測的終極多功能性和數據清晰度
Medipix 技術作為專用條帶檢測器
第一部為X光繞射儀提供 0D-1D-2D 和 3D 數據的偵測器
Automatic Rietveld refinements for industrial process control
自動化及受規範環境專屬 XRD 分析
晶體學分析等應用的理想工具
Stress analysis in polycrystalline coatings
無人值守，自動運轉的高通量 XRD 分析全新解決方案
不論是研究或工業環境中，Aeris 皆能用以輕鬆有效地進行樣本特性分析。但有時候，您的應用需要專門的解決方案，或者，您需要一套已校準到位、隨時可用的桌上型 XRD 系統替代方案。
為了滿足此類需求，我們也提供為各個不同產業量身打造且開箱即可使用的 Aeris 版本。這些產業專用版本隨附有可自訂的專業套件，已針對您的特定分析方法或樣本材料預先進行校準。Aeris 內建的 Roboriet 軟體已預先設定就緒，可用以進行自動化測量與分析。隨時可進行測量！
由下方參考適合您需求的版本：
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 6
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 8
版本号: 6
版本号: 6
版本号: 6
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 4
版本号: 3
版本号: 2
版本号: 4
版本号: 2
版本号: 3
OmniTrust software update v1.7a
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
OmniAccess
OmniTrail
More information can be found in the Release and Installation Notes.
Malvern Panalytical 提供多項產品服務，以確保您的儀器保持在最佳狀態，發揮一流的性能，我們的應用專家和技術支援服務團隊能確保您的儀器在最佳狀態下運作。
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